IONTOF是*的TOF-SIMS的研究者和制造商。

 

 

IONTOF是由Alfred Benninghoven教授，Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年創(chuàng)立，創(chuàng)始人Prof.Benninghoven教授是國際靜態(tài)二次離子質譜的奠基人，他們團隊始終帶領國際二次離子術的發(fā)展，從上世紀80年代初開始，Benninghoven教授和他的研究組就致力于飛行時間二次離子質譜的系統(tǒng)和應用研究。依托于明斯特大學和州納米中心的技術和人才優(yōu)勢，TOF-SIMS已經(jīng)發(fā)展成為重要的表面分析手段。

TOF.SIMS 5從2003年定型到現(xiàn)在已經(jīng)成為市場上相當成功的飛行時間二次離子質譜系統(tǒng)。到2016年，世界上已經(jīng)有超過350套高性能的TOF.SIMS系統(tǒng)成功地應用在世界各地的公司和學術研究機構中。

北京艾飛拓科技有限公司作為德國IONTOF公司的中國總代理，成立于2012年。主要負責飛行時間二次離子質譜儀（ToF-SIMS，型號：M6）、低能離子散射能譜儀（LEIS，型號：Qtac100）和高分辨磁力顯微鏡（hr-MFM，型號：VLS-80）這三類產(chǎn)品，在中國大陸及港澳地區(qū)的銷售、售后、宣傳、培訓、技術服務等工作。

公司成員來自北京大學、中科院物理所等高等院校研究生，“以物理學、材料學、國際貿(mào)易等專業(yè)背景打造核心團隊，秉承引進國際質譜領域*技術的理念，以提高我國材料分析技術為核心目標，密切與國內(nèi)多所高校、研究機構、科技公司合作，共同攻克技術難題。”