三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現(xiàn)非接觸式高精度細微表面性狀測量
三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現(xiàn)非接觸式高精度細微表面性狀測量
● 不依賴于光學倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學系統(tǒng)的NA進行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動的高穩(wěn)定性
● 小型輕便
三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現(xiàn)非接觸式高精度細微表面性狀測量
產(chǎn)品陣容
型號 Z向移動范圍 Z向分辨力
WLI-Unit-003 8000μm -
WLI-Unit-005 8000μm 4nm
WLI-Unit-010 8000μm 4nm
免責聲明：以上所展示的信息由企業(yè)自行提供，內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負責，化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
巴斯德儀器（蘇州）有限公司
相關(guān)供應
采購中心