金屬分析儀器-貴金屬礦檢測儀器
1. 主要型號及特點
（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟型）
適用場景：基礎(chǔ)礦石分析、礦脈勘探
檢測元素：Mg（鎂）~ U（鈾）
核心優(yōu)勢：
性價比高，適合預(yù)算有限的用戶
防塵防水（IP54），適應(yīng)野外環(huán)境
配備硅漂移探測器（SDD），檢測速度快（1~3秒）
（2）Vanta C系列（高性能）
適用場景：高精度礦石分析、稀土元素檢測
檢測元素：擴展至輕元素（可選配Li、Be等）
核心優(yōu)勢：
超高靈敏度（ppm級檢測限）
可測**稀土元素（REE）**如La、Ce、Nd等
耐環(huán)境（-10°C~50°C）
（3）Vanta M系列（工業(yè)級）
適用場景：礦山質(zhì)量控制、冶煉廠原料檢測
檢測元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測輕元素）
核心優(yōu)勢：
抗摔設(shè)計（1.2米跌落測試）
大容量電池（連續(xù)工作8~12小時）
支持云數(shù)據(jù)同步，方便團隊協(xié)作
2. 核心技術(shù)：X射線熒光（XRF）
原理：X射線激發(fā)礦石原子，通過熒光光譜分析元素成分。
精度：
主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%
微量元素（如Au、Ag）檢測限達ppm級
適用礦石類型：
金屬礦（銅、鐵、鉛鋅、金、銀等）
稀土礦（釹、鑭、鈰等）
工業(yè)礦物（磷灰石、鋁土礦等）
金屬分析儀器-貴金屬礦檢測儀器
3. 典型應(yīng)用場景
| 行業(yè) | 具體用途 |
|---|---|
| 地質(zhì)勘探 | 現(xiàn)場快速分析礦脈成分，指導(dǎo)鉆探方向 |
| 礦山開采 | 礦石品位評估（如金礦含金量、銅礦品位） |
| 選礦廠 | 分選高/低品位礦石，優(yōu)化冶煉流程 |
| 環(huán)境監(jiān)測 | 檢測尾礦中的有害元素（如As、Hg、Cd） |
| 貿(mào)易檢測 | 礦石交易中的成分公證，避免摻假 |
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