2025-03-31
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FISCHER XDL210
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能全自動(dòng)檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL210菲希爾X射線測(cè)厚儀特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測(cè)量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
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