AS-100膜厚反射率測試
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 三經(jīng)科技電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2015/12/5 19:43:21
- 訪問次數(shù) 534
產(chǎn)品標(biāo)簽
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AS-100膜厚反射率測試技術(shù)參數(shù)
波長精度：0.2nm
校正線性度：99.8%
測量誤差：1%以下
單次測量時間：zui小100ms
功耗：200W
電源：210~245V，60Hz
信號接口：USB2.0
操作系統(tǒng)：windows
波長范圍：200-1100 nm
數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器（USB2.0 接口 ），18ms（USB1.1）
每300ms 一個全掃描入存儲器（串行口）
探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外
積分時間：10um～65min
入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）
光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連
各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)
電子控制：8 個數(shù)字GPIO 接口 電子快門控制（zui短10um）
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇 有關(guān)）
動態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個掃描信號）
AS-100膜厚反射率測試主要特點：
·全新設(shè)計的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·雙光束測光系統(tǒng),配合設(shè)計*的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
極低的噪聲.
全自動的控制系統(tǒng),*的設(shè)計理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性.
·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開放式光源室設(shè)計,使燈源更換更加方便.
· windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項技術(shù).提供了豐富的*特色的分析功能.
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