TX500型X射線鍍層測厚儀

TX500型X射線鍍層測厚儀利用X射線快速、精確、無損的測試鍍層/涂層厚度,可以測試多層鍍層、合金鍍層等復(fù)雜模式.是一款的X熒光測厚儀.

應(yīng)用范圍
電鍍、真空鍍、化學(xué)鍍、納米噴鍍
電子、電器、五金、線材、汽車、珠寶首飾等行業(yè)的金屬鍍層、無機(jī)鍍膜分析

X熒光測厚儀性能指標(biāo)
可測元素： 硫（S）－鈾（U）
可測鍍層： zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機(jī)薄膜
鍍層種類： 單金屬、合金、無機(jī)薄膜
精度： zui高可達(dá)0.005um
厚度相對誤差： 單層5%，多層5～10%
厚度范圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um

含量分析范圍： 0.0002～*
含量檢出限： 2ppm
含量相對誤差： 5～10%
zui小測量直徑： 0.1mm
分析時間： 30～200S

技術(shù)參數(shù)
探測器： 進(jìn)口半導(dǎo)體探測器，分辨率達(dá)139eV
X光管： 鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1.5mA
使用壽命長達(dá)5萬小時
高壓電源： 精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
穩(wěn)定度每8小時小于0.05%
濾光片： 6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
準(zhǔn)直器： 采用的高科技X射線聚焦晶體，zui小分析面積至0.1*0.1mm^2
對焦系統(tǒng)： 激光對焦
樣品臺： 高精度步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動，XY軸二維移動，步長精確至0.05mm
樣品腔： 大氣
樣品觀察： 高清晰彩色CCD射線頭
X射線防護(hù)： 三重X射線防護(hù)（樣品腔、機(jī)殼、程序控制），
低于GB16355-1996防輻射標(biāo)準(zhǔn)
輸入電壓： AC 220V/50HZ
功耗： 300W
樣品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 45Kg

功能特點(diǎn)
自動安全的高壓防護(hù)電路設(shè)計(jì)；
*的光路系統(tǒng)，增大X射線強(qiáng)度，減少散射背景；
高精度步進(jìn)電機(jī)移動樣品臺，實(shí)現(xiàn)um級的精確移動；
*的激光定位系統(tǒng)，精確定位細(xì)小局部；
緊密封閉的腔體設(shè)計(jì)、電路控制、機(jī)械控制三重X射線防護(hù)；
對分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小、厚度自動進(jìn)行校正，減少因制樣不足而帶來的誤差。

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