毫米劃痕壓頭 —用于宏觀尺度的劃痕測量。

納米、微米級摩擦學(xué)壓頭 —用于薄膜、涂層以及塊體材料的摩擦磨損測量、靜態(tài)/動態(tài)摩擦學(xué)測量、耐用度、附著力，粘滑性等機(jī)械性能測量。
 
CETR-Apex檢測特性 & 技術(shù)優(yōu)勢

配備隔熱罩、隔音罩以及防震臺
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學(xué)性質(zhì)的變化
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面，檢測效率高，重復(fù)性好  
用戶自定義數(shù)據(jù)分析算法或分析模型，精確檢測材料機(jī)械性能
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)

劃痕測試選項

自定義劃痕軌跡（鋸齒形、線形、螺旋形、旋轉(zhuǎn)形）
自動聚焦顯微鏡可實現(xiàn)自動劃痕
全景成像，可以觀測到整個溝槽的信息
可同時獲得劃痕的完整圖像以及摩擦學(xué)、聲學(xué)發(fā)射信號、溝槽深度、材料力度等各種機(jī)械性能信息
改進(jìn)操作窗口，包括：整幅圖像的縮進(jìn)、拉出、采集圖像和分析數(shù)據(jù)同步顯示

納米摩擦磨損測試選項

可隨意更換線性或旋轉(zhuǎn)驅(qū)動
可以自定義選擇測試環(huán)境的溫度、濕度及氣體濃度
任意選擇從極低到*的測試速度
超低負(fù)載——精確控制負(fù)載、測試速度和樣品定位，所得測試數(shù)據(jù)具有*的重復(fù)性
技術(shù)傳感器滿足X、Y和Z軸同時驅(qū)動進(jìn)行摩擦磨損測試
進(jìn)行摩擦、磨損、粘滯力、粘滑性等多種測試

納米模塊 NH
隨著納米科技和薄膜技術(shù)的發(fā)展（太陽能電池，cvd、pvd、dlc、MEMS等），納米尺度的機(jī)械性能測試趨向標(biāo)準(zhǔn)化。納米機(jī)械性能測試在傳統(tǒng)測試基礎(chǔ)上有了很大改進(jìn)，通過設(shè)計高寬徑比的探針測試更深更窄的溝槽，還實現(xiàn)低負(fù)載，高空間分辨以及原位負(fù)載-位移數(shù)據(jù)精確測量。
納米壓痕 — 參照ISO14577認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，選取單點/多點壓痕來測量薄膜、涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量、張力、應(yīng)力（馮米塞斯應(yīng)力，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等。
納米劃痕 – 在接觸模式下，可根據(jù)用戶自定義不斷增加負(fù)載，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力。
動態(tài)壓痕 - 通過探針動態(tài)測量方法，檢測深度依賴性損失以及存儲模量。

NH特性
電磁驅(qū)動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學(xué)性質(zhì)變化
針尖幾何形狀為berkovich、球體、或者立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面
可選擇線性成像（*AFM功能）
檢測效率高，重復(fù)性好
可選擇*的原位傳感器
配備隔熱罩、隔音罩以及防震臺
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)

微米模塊 MH
微米機(jī)械性能測試已經(jīng)被應(yīng)用于檢測涂層和塊體材料的各種機(jī)械性能。微米機(jī)械性能測試儀大大優(yōu)于傳統(tǒng)測試方法，可以實現(xiàn)原位負(fù)載數(shù)據(jù)精確替換、應(yīng)用類似聲學(xué)發(fā)射檢測、ECR、摩擦檢測等信號來獲得更多機(jī)械性能信息。
儀器化微米壓痕檢測——參照ISO14577認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，在毫米尺度（應(yīng)用超過2牛的負(fù)載）以及微米尺度（低于2牛的負(fù)載）下檢測涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量、張力、應(yīng)力（馮米塞斯應(yīng)力，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等。
傳統(tǒng)維氏硬度和努普硬度  參照ASTM E384.99認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，測量微米尺度的材料硬度。
微米劃痕 —在接觸的模式下，可根據(jù)用戶自定義不斷增加負(fù)載，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力。

MH特性
 
電磁驅(qū)動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測位移
針尖幾何形狀為berkovich、球體、或立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面
可選擇線性成像（*3D輪廓儀）
檢測效率高，重復(fù)性好
選擇*的原位傳感器
用戶自定義數(shù)據(jù)分析算法或分析模型，精確檢測材料機(jī)械性能
符合 ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)