美國(guó)膜厚測(cè)試儀用*的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡(jiǎn)易但功能強(qiáng)大,可分析元素由鋁（13）到鈾（92）,并且具備視像顯微鏡及可測(cè)量小到ppm的范圍,即使是較大的測(cè)量樣品也可放在XY（Z）測(cè)量臺(tái)上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量。

美國(guó)膜厚測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)
    > 采用上的、穩(wěn)定性的射線源，體積小，使用壽命長(zhǎng)，易維護(hù)。
    > 設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔、操作簡(jiǎn)單、部件更換快速、簡(jiǎn)單，便于維護(hù)。
    > 快速多點(diǎn)校正法技術(shù)保證了系統(tǒng)的*精度。
    > 快速、連續(xù)、非接觸測(cè)量、實(shí)時(shí)顯示高精度測(cè)量值。
    > 操作站：提供中英文操作界面（Win7）。使用的JAVA 技術(shù)。
    > 采用雙放大技術(shù)和*大電離室，提升測(cè)量范圍及精度。

膜厚測(cè)試儀測(cè)量技術(shù)同行15年，在同測(cè)量領(lǐng)域風(fēng)蚤，成為膜厚儀*，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，*的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。

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