鍍層美國膜厚測試儀

俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等.
用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費. 
產(chǎn)品副名稱：應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀. 

性能特點
+ 高效超薄窗X光管，指標達到*水平。 
+ 的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好。
+ SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。 
+ 產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。 
+ 低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好。 
+ 智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍。 
+ 自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性。
+ 高信噪比的電子線路單元。 
+ 針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。 
+ 解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度。
+ 多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制。
+ 內(nèi)置高清晰攝像頭。 
+ 液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。
: 舒翠 
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