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XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，
帶有高功率450kV微焦點X射線源

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標準。這臺功能強大的設備的核心部件是一個450kV微焦點源，可提供超高分辨率和超高精度。

    彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等

優(yōu)點

• 可靈活地整合在單個系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析
• 快速數(shù)據(jù)采集和高質量圖像
• 高分辨率數(shù)字成像和處理
• 嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預防措施或安全警示標志

特性

• *的450kV微焦點源
• 測量體積可達600mm直徑和600mm高度
• 高效線性探測器，>80%量子檢測有效率
• 五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
• 特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測

應用

• 渦輪葉片內(nèi)部結構的詳細分析
• 葉片的自動通過/不通過檢測
• 需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）