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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>表面/界面性能測(cè)定儀>LB膜分析儀>KSV NIMA Langmuir膜分析儀

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KSV NIMA Langmuir膜分析儀

參考價(jià) 200000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 瑞典百歐林科技有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) KSV NIMA
  • 產(chǎn)地 芬蘭
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2015/9/9 14:37:13
  • 訪問次數(shù) 2454
產(chǎn)品標(biāo)簽

瑞典百歐林LB膜膜分析儀Langmuir膜

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


   瑞典百歐林科技有限公司是一家*科研儀器生產(chǎn)商,在北歐的瑞典,丹麥和芬蘭都有主要產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)基地。我們?yōu)橛脩籼峁└呖萍?、高精度的科研設(shè)備,可用于表界面、材料科學(xué)、生物科學(xué)、藥物開發(fā)與診斷等研究領(lǐng)域。
   我們同時(shí)專注于用戶的技術(shù)和應(yīng)用支持,以及科技的發(fā)展與進(jìn)步。我們的產(chǎn)品均基于*的測(cè)量技術(shù),而這些技術(shù),或?yàn)槲覀?,或?yàn)槲覀?,或在*科研與發(fā)展中占主導(dǎo)地位。我們的核心戰(zhàn)略是,通過尋找具有廣闊商業(yè)前景的科研領(lǐng)域,來(lái)應(yīng)用我們的產(chǎn)品與技術(shù)。我們的現(xiàn)階段包含三大產(chǎn)品線:

QSense:用于研究大分子界面以及相互作用的分析儀器

QSense耗散型全自動(dòng)八通道石英晶體微天平;

QSense四通道石英晶體微天平QCM-D;

QSense Explorer單通道擴(kuò)展版QCM-D;

QSense Initiator單通道基礎(chǔ)版QCM-D;

KSV NIMA:?jiǎn)畏肿訉颖∧さ臉?gòu)建與表征工具

LBLangmuir-Blodgett)膜分析儀;

氣液、液液/氣固界面上有序單層和多層結(jié)構(gòu)的組裝和表征

布魯斯特顯微鏡;

無(wú)損實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)空氣/水界面處分子層的圖像

界面剪切流變儀;

高靈敏度測(cè)量液體界面處的流變性能

浸漬鍍膜機(jī);

無(wú)振動(dòng),可程序控制的固體樣品浸漬方案

界面紅外反射吸收光譜儀

用于薄膜和漂浮的單分子層膜的*的表面光譜方法

Attension:界面科學(xué)與材料技術(shù)所用的表面張力測(cè)量設(shè)備

光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x/表界面張力儀 Theta/Theta Lite/Theta QC光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x

力學(xué)法表界面張力儀Sigma 700/701/702/702ET/703D表/界面張力儀

   主要的客戶來(lái)自于學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)、科研單位以及企業(yè)研發(fā)部門。在科研領(lǐng)域,用戶使用我們的儀器作為分析工具,以更好地開展基礎(chǔ)或應(yīng)用研究,獲取和發(fā)表優(yōu)異的科研結(jié)果。在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域,分析儀器同時(shí)用于基礎(chǔ)研究和質(zhì)量控制過程。我們的主要工業(yè)用戶均為各領(lǐng)域性的*。目前,百歐林的用戶已遍布70多個(gè)國(guó)家和地區(qū)。

中國(guó)代表處:

邊長(zhǎng)8cm 掃描距離0.5m.jpg

上海市浦東新區(qū)商城路800號(hào)斯米克大廈1125室
電話 86 21 6837 0071/68370072
info@biolinscientific.com


石英晶體微天平,光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x,表面張力測(cè)量?jī)x,薄膜制備與分析儀器,離子通道,膜片鉗

Langmuir膜分析儀

1. 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

   KSV NIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經(jīng)營(yíng)方向?yàn)閱畏肿訉颖∧さ臉?gòu)建與表征工具。Langmuir膜分析儀為KSV NIMA自主研發(fā)的一款單分子層膜的制備和表征設(shè)備,適用于制備、改性和研究Langmuir。

   常規(guī)的Langmuir膜分析儀包含六種型號(hào)的槽體:超小型、小型、中型、大型、液-液、高壓縮比型。

2. 工作原理

   位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動(dòng),具有較強(qiáng)的流動(dòng)性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過的壓力傳感器進(jìn)行控制。

   在進(jìn)行典型的等溫壓縮測(cè)試時(shí),單分子層先從二維的氣相(G)轉(zhuǎn)變到液相(L)zui后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當(dāng)表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開始發(fā)生相互作用;在固相時(shí),分子的堆積是有序的,導(dǎo)致表面壓迅速增大。當(dāng)表面壓達(dá)到zui大值即塌縮點(diǎn)后,單分子層的堆積不再可控。

1 單分子層膜狀態(tài)受表面壓力增加的影響


3. 技術(shù)參數(shù)

    常規(guī)的KSV NIMA Langmuir槽有以下幾種尺寸:容積比小型小,面積比小型大的特小型槽、小型槽、中型槽和大型槽。特小型槽的體積zui小,但是表面積比小型槽大。三種較小的槽體采用相同的框架,可隨時(shí)調(diào)整不同尺寸的槽體。液-液槽或高壓縮槽采用更大的框架,但同樣適用于較小型槽體。不同型號(hào)的槽體如下所述。

3.1 超小型Langmuir膜分析儀(KN 1001

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 槽體表面積:150 cm2
  5. 槽體內(nèi)部尺寸:300 x 50 x 1.2 mm(長(zhǎng) x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  8. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  10. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  12. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測(cè)試槽亞相容積:18 ml
  14. 電源: 100...240 VAC
  15. 頻率: 50...60 Hz

2 超小型Langmuir膜分析儀(KN 1001

3.2 小型Langmuir膜分析儀(KN 1002

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 槽體表面積: 98 cm2
  5. 槽體內(nèi)部尺寸:195 x 50 x 4 mm(長(zhǎng) x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  8. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  10. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  12. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測(cè)試槽亞相容積:39 ml
  14. 電源: 100...240 VAC
  15. 頻率: 50...60 Hz

3 小型Langmuir膜分析儀(KN 1002

3.3 中型Langmuir膜分析儀(KN 1003

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 槽體表面積: 273 cm2
  5. 槽體內(nèi)部尺寸:364 x 75 x 4 mm(長(zhǎng) x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  8. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  10. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  12. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測(cè)試槽亞相容積:109 ml
  14. 電源: 100...240 VAC
  15. 頻率: 50...60 Hz

4 中型Langmuir膜分析儀(KN 1003

3.4大型Langmuir膜分析儀(KN 1006

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 槽體表面積: 841 cm2
  5. 槽體內(nèi)部尺寸:580 x 145 x 4 mm(長(zhǎng) x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  8. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  10. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  12. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測(cè)試槽亞相容積:336 ml
  14. 電源: 100...240 VAC
  15. 頻率: 50...60 Hz

5 大型Langmuir膜分析儀(KN 1006

3.5 -Langmuir膜分析儀(KN 1004

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔POM材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 上部槽體表面積:580 cm2
  5. 上部亞相體積:406 ml
  6. 下部槽體表面積:423 cm2
  7. 下部亞相體積:212 ml
  8. 槽體尺寸:908 x 227 x 293(長(zhǎng) x x高)
  9. 上部槽體內(nèi)部尺寸:784 x 74 x 7 mm3(長(zhǎng) x x高)
  10. 下部槽體內(nèi)部尺寸:784 x 54 x 5 mm3(長(zhǎng) x x高)
  11. 滑障速度: 0.01-270 mm/min
  12. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  13. 滑障控位精度: 0.01  mm
  14. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  15. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  16. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  17. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  18. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  19. 電源: 100...240 VAC
  20. 頻率: 50...60 Hz

6 -Langmuir膜分析儀(KN 1004

3.6 高壓縮比Langmuir膜分析儀(KN 1005

  1. 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
  3. 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
  4. 槽體表面積: 587 cm2
  5. 槽體內(nèi)部尺寸:782 x 75 x 5 mm(長(zhǎng) x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1  mm/min
  8. 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平zui大負(fù)荷: 1 g
  10. 天平定位調(diào)節(jié) 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN(yùn)/m
  12. 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測(cè)試槽亞相容積:293 ml
  14. 電源: 100...240 VAC
  15. 頻率: 50...60 Hz

7 高壓縮比Langmuir膜分析儀(KN 1005

4. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及亮點(diǎn)

4.1 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  1. 專為極度精確測(cè)試設(shè)計(jì)的超敏感表面張力傳感器。鉑金屬板,鉑金屬棒及紙板都可用作探針以滿足不同的需求。
  2. 開放性的設(shè)計(jì)便于槽體在框架上的放置及不同槽體的快速更換,同時(shí)便于清洗槽體表面。
  3. 當(dāng)需要清潔或更換新槽體時(shí),槽體在框架上的拆卸/放置極其方便。
  4. Langmuir槽體是由便于清潔、可靠耐久的整塊純聚四氟乙烯構(gòu)成,其*的設(shè)計(jì)能夠防止槽體發(fā)生泄漏,同時(shí)避免了使用膠水及其他封裝材料造成的潛在污染。
  5. 滑障由親水性的迭爾林聚甲醛樹酯制成,可提高單分子層的穩(wěn)定性??筛鶕?jù)客戶需要提供疏水性的聚四氟乙烯壓縮滑障。穩(wěn)健的金屬構(gòu)架能夠防止滑障隨著時(shí)間的推移而變形。
  6. 對(duì)稱滑障壓縮為標(biāo)準(zhǔn)的均勻壓縮方法,但任意儀器均可實(shí)現(xiàn)單一滑障壓縮。
  7. 通過外部循環(huán)水浴對(duì)鋁制底板進(jìn)行加熱/冷卻,以控制亞相的溫度(水浴為分開銷售)。

8.      通過調(diào)整框架撐腳,可快速而準(zhǔn)確地校準(zhǔn)槽體水平。當(dāng)需要放置顯微鏡時(shí),框架撐腳也可很容易地從槽體上拆除。

4.2 產(chǎn)品亮點(diǎn)

4.2.1 聯(lián)用或相關(guān)分析技術(shù)

本產(chǎn)品可與界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS),布魯斯特角顯微鏡(BAM)界面剪切流變儀(ISR),熒光顯微鏡,X射線等光學(xué)表征技術(shù)聯(lián)用或?qū)悠愤M(jìn)行后續(xù)分析。具體如:

  1. 紅外反射吸收光譜(KSV NIMA PM-IRRAS)
  2. 石英晶體微天平(Q-Sense QCM-D)
  3. 表面等離子共振儀
  4. 電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x
  5. 紫外可見吸收光譜儀
  6. 原子力顯微鏡
  7. X射線反射器
  8. 透射電子顯微鏡
  9. 橢圓偏振儀
  10. X射線光電子能譜儀等

4.2.2 本公司可提供聯(lián)用儀器簡(jiǎn)介

  1. 界面紅外反射吸收光譜儀PM-IRRAS

帶極化模塊的界面紅外反射吸收光譜儀主要用來(lái)決定分子的取向和化學(xué)組成。

  2. 布魯斯特角顯微鏡(BAM

可進(jìn)行薄膜的均一性、相行為和形貌的單分子層成像和光學(xué)觀測(cè)。

  3.  表面電位測(cè)量?jī)x(SPOT

使用無(wú)損振蕩板式電容技術(shù)來(lái)監(jiān)測(cè)薄膜的電位變化,從而對(duì)單分子層的電學(xué)性質(zhì)進(jìn)行表征。提供堆積密度和取向等信息,可對(duì)任何Langmuir等溫測(cè)試進(jìn)行補(bǔ)充。

  4.  界面剪切流變儀(ISR

這種*的剪切流變儀可以測(cè)量界面處的粘彈性。適用于氣-液或油-水的研究,在控制表面壓的同時(shí),可對(duì)粘彈性進(jìn)行分析。

5. 產(chǎn)品應(yīng)用

5.1 應(yīng)用范圍

  • 生物膜及生物分子間的相互作用
  • 細(xì)胞膜模型(如:蛋白質(zhì)與離子的相互作用)
  • 構(gòu)象變化及反應(yīng)
  • 藥物傳輸及行為
  • 有機(jī)及無(wú)機(jī)涂料
  • 具有光學(xué)、電學(xué)及結(jié)構(gòu)特性的功能性材料
  • 新型涂料:納米管、納米線、石墨烯等
  • 表面反應(yīng)
  • 聚合反應(yīng)
  • 免疫反應(yīng)、酶-底物反應(yīng)
  • 生物傳感器、表面固定催化劑
  • 表面吸附和脫附
  • 表面活性劑及膠體
  • 配方科學(xué)
  • 膠體穩(wěn)定性
  • 乳化、分散、泡沫穩(wěn)定性
  • 薄膜的流變性
  • 擴(kuò)張流變
  • 界面剪切流變(與KSV NIMA ISR 聯(lián)用)

5.2 客戶發(fā)表成果(部分)

  1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)
  2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)
  3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)
  4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011,  5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)
  5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)
  6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)
  7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)

6.

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