XP2U梅特勒電子天平百萬分之一分析天平
- 公司名稱 懷熙實(shí)業(yè)發(fā)展（上海）有限公司
- 品牌 Mettler Toledo/梅特勒托利多
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 瑞士
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/9/15 16:48:38
- 訪問次數(shù) 669
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XP2U梅特勒電子天平百萬分之一分析天平
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XP2U梅特勒電子天平百萬分之一分析天平產(chǎn)品特性：
緊湊性：便捷，緊湊的設(shè)計(jì)。 |
高性價(jià)比：具有天平該有的所有基本功能和特點(diǎn)。 |
實(shí)用性：操作簡單。 |
| 標(biāo)準(zhǔn)特性: | 應(yīng)用程序: | |||||||||||
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技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | XP2U | XP6U | XP6 |
標(biāo)稱值與極限值 | |||
zui大稱量值 | 2.1 g | 6.1 g | 6.1 g |
可讀性 | 0.0001 mg | 0.0001 mg | 0.001 mg |
重復(fù)性(sd)-正常加載 | 0.00025 mg | 0.00040 mg | 0.0008 mg |
重復(fù)性(sd)-低加載 | 0.0002 mg (0.2 g) | 0.00025 mg (0.2 g) | 0.0006 mg (0.2 g) |
線性誤差 | 0.001 mg | 0.004 mg | 0.004 mg |
靈敏度漂移 | 1.5 x 10-5 | 0.7 x 10-5 | 7 x 10-6 |
靈敏度溫度漂移 2) | 0.0001%/?C | 0.0001%/?C | 0.0001%/?C |
靈敏度穩(wěn)定性 3) | 0.0001%/a | 0.0001%/a | 0.0001%/a |
典型值 4) | |||
典型重復(fù)性(sd) | 0.00015 mg+2.5x(10-8) ?R_gr | 0.00015 mg+2.5x (10-8)? R_gr | 0.0004 mg+3 x (10–8)?R_gr |
典型微分非線性(sd) | √8x(10-14)g?R_nt | √1.5x(10-13)g?R_nt | √1.5x(10-13)g?R_nt |
典型靈敏度偏移(sd）2) | 3 x (10-6) ?R_nt | 1.5 x (10-6) ?R_nt | 5 x (10-6) ?R_nt |
典型zui小稱量值*（符合USP | 0.45 mg+7.5x (10-5) ?R_gr | 0.45 mg+7.5x (10-5) ?R_gr | 1.2 mg+9 x (10–5)?R_gr |
典型zui小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10-6) ?R_gr | 0.03 mg+5 x (10-6) ?R_gr | 0.08 mg+6 x (10–6)?R_gr |
典型穩(wěn)定時(shí)間 | < 10 s | < 15 s | < 8 s |
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) *次安裝，使用proFACT校準(zhǔn)，靈敏度穩(wěn)定性
4) 可用于估算不確定度
sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復(fù)性和zui小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn)：
- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
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