納米粒度分析儀
- 公司名稱 上海脈實(shí)科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/10/21 18:38:18
- 訪問次數(shù) 867
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納米粒度與Zeta電位分析儀
NanoPlus是*的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個(gè)樣品池,滿足不同用戶的應(yīng)用。
高濃度Zeta電位測(cè)試
按常規(guī)方法,由于多重散射(A)現(xiàn)象和透光性問題,我們不能正確測(cè)量濃懸浮液的散射光。FST是通過透明電極改變散射光方向從而檢測(cè)散射光的一種新方法。其檢測(cè)光路徑很短,減少了多重散射的影響。因此,NanoPlus可以測(cè)定0.00001%到40%高濃懸
浮液的Zeta電位。
真實(shí)電泳遷移率的測(cè)定
當(dāng)測(cè)量電泳時(shí),樣品池壁上的電荷會(huì)導(dǎo)致電滲。當(dāng)樣品池壁帶負(fù)電荷時(shí),帶正電荷的離子和粒子被吸引,聚集在池壁周圍。池壁周圍的液體將向負(fù)極方向運(yùn)動(dòng),樣品池中心的液體向相反的方向(正極)運(yùn)動(dòng)。
在電泳過程中產(chǎn)生的電滲會(huì)干擾電泳遷移率的正確測(cè)量。 NanoPlus檢測(cè)樣品池中多個(gè)點(diǎn)的電泳遷移率以獲得在不受電滲影響的靜止層處的電泳遷移率。即使是在樣品吸附或者沉淀造成的不對(duì)稱電滲的條件下,也能獲得高精度的電泳遷移率。
寬粒度測(cè)試范圍
測(cè)量懸浮液樣品粒度范圍:0.1nm-12.3μm,濃度范圍0.00001%-40%,分子量zui小到250道爾頓,雙相關(guān)器,提供高靈敏度多種樣品的測(cè)試。
多種樣品池
提供多種樣品池用于納米粒度與Zeta電位的測(cè)試,包含固體平表面樣品池用于涂層、薄膜和處理過的玻璃。
服務(wù)方式支持:通過或傳真形式,將安排專業(yè)技術(shù)人員在規(guī)定時(shí)間內(nèi)對(duì)設(shè)備故障定位,并拿出解決方案,zui終排除故障; 現(xiàn)場(chǎng)支持:通過不能診斷的故障,將安排工程師赴現(xiàn)場(chǎng)分析原因,制定方案,排除故障。服務(wù)承諾 服務(wù)響應(yīng)及時(shí) 解決問題有效 服務(wù)過程規(guī)范 服務(wù)內(nèi)容全面