掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)
- 公司名稱(chēng) 上海埃飛電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2016/5/30 15:02:48
- 訪問(wèn)次數(shù) 1393
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開(kāi)爾文探針表面光電壓譜
開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(shì)(Surface Potential)。
材料表面的功函數(shù)通常由zui上層的1-3層原子或分子決定，所以開(kāi)爾文探針是一種zui靈敏的表面分析技術(shù)。
我們的開(kāi)爾文探針系統(tǒng)包括：
□單點(diǎn)開(kāi)爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□掃描開(kāi)爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□超高真空(UHV)開(kāi)爾文探針；
□濕度控制的腐蝕開(kāi)爾文探針；
掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng) (ASKP)
ASKP系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶(hù)所接收的掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)，它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置，其規(guī)格如下：
□2毫米，50微米探針；
□功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)，5-10 meV(50微米針尖)；
□針尖到樣品表面高度可以達(dá)到400納米以?xún)?nèi)；
□表面勢(shì)和樣品形貌3維地圖；
□探針掃描或樣品掃描選配；
□彩色相機(jī)、調(diào)焦鏡頭、TFT顯示器和專(zhuān)業(yè)的光學(xué)固定裝置；
□參考樣品(帶相應(yīng)的的形貌)；
□備用的針尖放大器；
儀器的特色
□*臺(tái)商用的*意義上的開(kāi)爾文探針系統(tǒng)；
□zui高分辨率的功函數(shù)和表面勢(shì)，的穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性；
□非零技術(shù)(Off-null,ON) ——ON信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)在高信號(hào)水平下工作，與基于零信號(hào)原(null-based,LIA)的系統(tǒng)相比，不會(huì)收到噪聲的影響擁有高靈敏度；
□高度調(diào)節(jié)技術(shù) ——我們的儀器在測(cè)量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度。因?yàn)楣瘮?shù)受 樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調(diào)節(jié)意味著數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性且不會(huì)漂移；
□該領(lǐng)域內(nèi)，擁有的信噪比；
□快速響應(yīng)時(shí)間 ——測(cè)量速度在0.1-10秒間，遠(yuǎn)快于其他公司產(chǎn)品；
□功能強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)器 ——選用Voice-coil(VC)驅(qū)動(dòng)器，與通常的壓電驅(qū)動(dòng)器相比，VC驅(qū)動(dòng)器頻率要穩(wěn)定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；
□所有開(kāi)爾文探針參數(shù)的全數(shù)字控制；
ON | 非零探測(cè) Off Null detection |
HR | 高度調(diào)節(jié)模式 Height Regulation mode |
SM | 實(shí)際開(kāi)爾文探針信號(hào)監(jiān)控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal |
UC | 用戶(hù)通道，同時(shí)測(cè)量外部參數(shù) User Channels, simultaneous measurement of external parameters |
DC | 電流探測(cè)系統(tǒng)去除漂移效應(yīng) Current Detection system rejects stray capacity effects |
PP | 平行板震動(dòng)模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode |
SA | 信號(hào)平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) |
WA | 功函數(shù)平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting |
DC | 所有探針及探測(cè)參數(shù)的數(shù)字控制Digital Control of all Probe and Detection Parameters |
QT | 針尖快速改變 Quick-change Tip, variable spatial resolution |
DE | 數(shù)據(jù)輸出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software |
OC | 輸出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit |
FC | 法拉第籠(電磁干擾防護(hù)罩) Faraday Cage (EMI Shield) |
RS | 金-鋁參考樣品 Gold-Aluminium Reference Sample |
額外選配項(xiàng) | |
SPV | 表面光伏電壓軟硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
RH | 相對(duì)濕度腔 Relative Humidity Chamber |
AC | 控制氣體進(jìn)口的環(huán)境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet |
EDS | 外部數(shù)據(jù)示波鏡 External Digital Oscilloscope |
OPT | 彩色相機(jī) Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts |
ST | 針尖置換 Replacement Tips |
GCT | 鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips |
XYZ | 25.4毫米手動(dòng)3維控制臺(tái) 3-axis 25.4 mm Manual Stage |
應(yīng)用領(lǐng)域
吸附，電池系統(tǒng)，生物學(xué)和生物技術(shù)，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術(shù)，教育，光/熱散發(fā)，費(fèi)米級(jí)掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術(shù)，Oleds，相轉(zhuǎn)變，感光染色，光伏譜學(xué)，高分子半導(dǎo)體，焦熱電，半導(dǎo)體，傳感器，皮膚，太陽(yáng)能電池，表面污染，表面化學(xué)，表面光伏，表面勢(shì)，表面物理，薄膜，真空研究，功函數(shù)工程學(xué)；
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