超高真空開爾文探針系統(tǒng)
- 公司名稱 上海埃飛電子科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/9/15 16:45:16
- 訪問次數(shù) 1244
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UHV-KP020超高真空掃描開爾文探針
開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢,表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng)
UHV-KP020 是超高真空室的一個*補(bǔ)充工具,可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得,包括高質(zhì)量的線性解碼器,使得探針和樣品的定位變得簡單, 的跟蹤系統(tǒng)在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究,亞單層范圍檢測是很平常的;也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。
技術(shù)參數(shù):
● 功函分辨率1-3meV(2-10mm探針)
● 用戶自定針尺寸(2-10mm)
● 用戶自定探針長度(法蘭到樣品)
● DN40(2.75''安裝端口)-其他可選
● 50mm手動平移器(100mm可選)
● 真空度2X10-11mbar
● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離
● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容
選件:
● 電動平移器
● UHVSKP
● 表面光電壓模塊SPV020和SPS030