TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

產(chǎn)品介紹

TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀采用單粒子計數(shù)技術(shù)，使用的 120°光收集光學系統(tǒng)和精致的電子處理裝置，從而獲得的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。主要用于快速的測量粒子濃度和粒徑分布檢測?？捎糜诠ぷ鲌鏊碍h(huán)境的空氣質(zhì)量監(jiān)測.

TSI 3330?主要特點：

   0.5微米時粒徑分辨率小于5%

　 粒徑通道用戶可調(diào)

　 檢測粒徑范圍：0.3-10微米， 多16通道

　 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍：0.525 mm

　 檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3

　 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面

　 全滿足ISO 21501-01/04要求

　 入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度

　 集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析

　 電池電量可供20小時的操作

　 多可存儲30000個數(shù)據(jù)

　 錄每個樣品的溫度和壓力

TSI 3330?技術(shù)參數(shù)： 

珠海天創(chuàng)儀器有限公司承諾：
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