德國 diondo 

d2全能型微納米焦點CT系統(tǒng)

以高精度三維無損檢測、分析與測量為導(dǎo)向

diondo d2 CT 系統(tǒng)采用業(yè)內(nèi)的微米和納米焦點射線源，針對高密度、大尺寸工件zui高可采用300kV 的微焦點射線源，而對于高分辨率CT 掃描，則可采用額外的納米焦點射線源，zui高空間分辨率優(yōu)于0.5?m。同時，得益于高對比度、高動態(tài)范圍的平板探測器，可以獲得的圖像質(zhì)量，以滿足各種產(chǎn)品質(zhì)量控制、科學(xué)研究及分析的要求。

關(guān)鍵特征：

● 基于大理石平臺的高精度5 軸機械系統(tǒng)  
● 190KV/225kV/240kV/300kV 反射型高功率微焦點射線源  
● *的雙射線源設(shè)計，可選額外的190kV/225kV/240kV/300kV  穿透型高分辨率納米焦點射線源   

● JIMA 卡空間分辨率測試可達0.5微米    

● 支持多種平板探測器，探元大小可選100微米/127微米/139微米/200微米  

● zui大檢測范圍：直徑500mm x 高度500mm    

● zui大承重：30kg    

● 支持diHelix 螺旋CT 掃描 支持diPlaner 平面CT 掃描

應(yīng)用：

產(chǎn)品質(zhì)量控制：

產(chǎn)品裝配檢查、尺寸測量

內(nèi)部缺陷/夾雜物自動識別、實物和設(shè)計圖紙自動比較、壁厚

自動測量、逆向工程

可自動生成檢測報告

可用于中小型輕金屬器件、電子元器件、復(fù)合材料制品、小型鋼制零件的高精度分析和測量

材料結(jié)構(gòu)分析：

材料內(nèi)部成分分布，不同的顏色標(biāo)識材料內(nèi)部不同的成分

可提取材料中特定的成分或結(jié)構(gòu)

將CT 結(jié)果轉(zhuǎn)換為不同的文件格式，以便后續(xù)更進一步的模擬分析

可用于金屬、復(fù)合材料、泡沫材料等的結(jié)構(gòu)分析

科學(xué)研究分析：

可對樣品進行高分辨率CT 掃描，zui高分辨率優(yōu)于0.5微米

根據(jù)特定的實驗要求，通過加裝特定的實驗裝置，可實現(xiàn)對實驗過程的原位觀察，如：液體在孔隙中的移動過程，材料在外力作用下的失效過程等

可用于醫(yī)學(xué)樣品、地質(zhì)樣本、生物標(biāo)本、化石、文物等的研究分析

diondo 專業(yè)的射線檢測方案提供者

致力于向提供專業(yè)的射線檢測方案和高精度的CT 檢測系統(tǒng)，幫客戶提高生產(chǎn)
力，主要業(yè)務(wù)涵蓋航空、航天、石油天然氣、汽車、文化、科研等領(lǐng)域。
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diondo 大中華區(qū)代表處——恩迪檢測控制
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