*向市場(chǎng)推出應(yīng)用于光纖行業(yè)的*款低成本、全自動(dòng)、非接觸干涉儀Connect-Chek® m171589 。m171589 用于自動(dòng)、精密地測(cè)量PC或APC型單芯光纖連接器的曲率半徑、頂點(diǎn)偏移以及纖芯凹陷或突出。不同于當(dāng)今市場(chǎng)上的其它任何系統(tǒng)，m171589 采用的突破性技術(shù)使得所有連接器生產(chǎn)廠家都能以買得起的價(jià)格擁有全自動(dòng)、非接觸干涉儀以便進(jìn)行光纖連接器的端面干涉檢查。

干涉儀采用即插即用的USB接口

m171589 是一款緊湊型干涉儀，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)USB接口與臺(tái)式電腦或筆記本電腦相連接,*的m171589 軟件通過(guò)電腦控制干涉儀并測(cè)取連接器的相關(guān)參數(shù)。無(wú)需任何用戶定制板卡或進(jìn)行復(fù)雜的系統(tǒng)設(shè)置。只需簡(jiǎn)單地安裝軟件，連接好m171589 ，即可運(yùn)行。用戶友好的軟件界面使得任何操作人員(即便是很少經(jīng)驗(yàn)的)都可以精確地測(cè)量出連接器的3D幾何尺寸。m171589 既適合于工廠也適合于野外，用于測(cè)量連接器至關(guān)重要的質(zhì)量信息，以確保光纖連接器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性能。

無(wú)須機(jī)械調(diào)整



m171589 采用了干涉測(cè)量的新生代技術(shù)，應(yīng)用于光纖斷面測(cè)量，因?yàn)楣饫w連接器在測(cè)量時(shí)保持在一個(gè)恒定的傾角。而所有其它系統(tǒng)，均需調(diào)整鏡子或平臺(tái)以確保連接器端面與光路垂直。m171589 無(wú)需任何機(jī)械調(diào)整，因?yàn)槿魏我粋€(gè)小的角度都是合適的，并且也是需要的。這正是該儀器的關(guān)鍵所在，因?yàn)楫?dāng)連接器處于一個(gè)小角度時(shí)，干涉環(huán)穿過(guò)插芯和光纖。這種傾角狀態(tài)提供了被測(cè)連接器的所有信息。經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的角度偏差校準(zhǔn)后，系統(tǒng)內(nèi)置的*數(shù)學(xué)算法將精密計(jì)算出連接器的球面曲率半徑、球面光纖高度和頂點(diǎn)偏移

操作界面友好

m171589 的用戶界面極其簡(jiǎn)單，所有選項(xiàng)均在直覺(jué)標(biāo)簽式菜單下可見(jiàn)，僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可實(shí)現(xiàn)Measure(測(cè)量), Setup(設(shè)置), Calibration(校準(zhǔn))或History Window(歷史窗口)。您可使用事先選定的IEC, Telcordia或用戶自定義的標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行對(duì)PC或APC連接器的pass/fail(合格/不合格)測(cè)量，所有信息均呈現(xiàn)于屏幕上?？商峁└鞣N精密夾具以測(cè)量各種連接器或插芯。測(cè)量數(shù)據(jù)可以保存在網(wǎng)絡(luò)中的任意目錄下或?qū)氲饺魏螖?shù)據(jù)庫(kù)或電子報(bào)表中。

精密頂點(diǎn)偏移測(cè)量

m171589 非常堅(jiān)固，旨用于生產(chǎn)、實(shí)驗(yàn)室以及野外環(huán)境進(jìn)行精密測(cè)量。由于采用了獲得美國(guó)的V形槽夾具，確保了精密頂點(diǎn)偏移測(cè)量，精密V形槽夾具確保連接器在校準(zhǔn)和測(cè)量過(guò)程中處于精確、可重復(fù)的位置。本系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)*化，具有的穩(wěn)定性，單次頂點(diǎn)偏移校準(zhǔn)可以延續(xù)幾周時(shí)間?？商峁└鞣N夾具適用于2.5 mm、2 mm、1.25 mm、以及0.0625”直徑的連接器插芯。除了測(cè)量連接器外，本儀器同樣可用于測(cè)量預(yù)成球裸插芯的曲率半徑和頂點(diǎn)偏移。當(dāng)今還沒(méi)有一款干涉儀像Norland Connect-Chek® m171589 這樣---精確、經(jīng)濟(jì)、易于使用。


技術(shù)指標(biāo)

尺寸 7” 寬 X 11” 長(zhǎng) X 3.5” 高(18mm寬 X 28 mm 長(zhǎng) X 9 mm高)

電源 12v適配器

放大倍數(shù) 10X物鏡

圖像分辨率 640X480

光源 LED (644 nm)

端面分辨率 1um

測(cè)量參數(shù) 范圍 可再生性 可重復(fù)性
曲率半徑 3 mm –50 mm 0.50% 0.25%
頂點(diǎn)偏移0-500 microns ±2 microns ±1 micron
纖芯凹陷 +/- 160 nm ±4 nm ±2 nm



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