電鍍膜厚儀XRF2000鍍層測厚儀

1、測量電鍍層厚度范圍為0.03um-35um。

2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金錫銅合金等。

3、可測量電鍍鍍層單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底材。

三、設(shè)備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量電鍍層厚度

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層可測量

定點自動定位分析

光標對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量數(shù)據(jù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定

1、主機箱：

輸入電壓：AC220V±10%，50/60Hz

溝通方法：RS-232C

溫度控制：前置放大及機箱溫度控制

對焦：激光自動對焦

樣品對位：激光對位

安全裝置：若測量中箱門打開，X射線會在0.5秒內(nèi)自動關(guān)閉

表面泄露：少于1SV

2、多通道分析：

通道數(shù)量：1024ch

溫度控制：自動前置放大溫度控制

脈沖處理：微電腦高速控制處理器

3、X射線源：

   X射線管：油冷、超微細對焦

   高壓：0-50Kv（程控）

   管電流：0-1mA（程控）

   目標靶：W靶（可選Mo或Be）

4、準直器：

  固定種類大?。?.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五個可選

韓國 MICRO PIONEER X-射線測厚儀XRF2000鍍層測厚儀

韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

 可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號

不同型號功能一樣

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹

XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm

XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計,可檢測大型樣品

儀器功能

全自動臺面

自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）

測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選

鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開顯示各自厚度.

測量時間：10－30秒

韓國電鍍膜厚儀XRF-2000鍍層測厚儀

*層：±5%

 第二層：±8%

 第三層：±15%

韓國MICRO PIONEER X-射線測厚儀XRF2000鍍層測厚儀