平行平晶0-100,一級平晶
- 公司名稱 南京毫特科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 南京
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/10/19 19:40:09
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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平行平晶0-100,一級平晶
產(chǎn)品名稱:平行平晶
產(chǎn)品型號:0-25mm;25-50mm;50-75mm;75-100mm(每組四塊)
廠 商:南京毫特科技有限公司
簡介
具有兩個(或一個)光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測長技術(shù))。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03~0.05微米;2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平行平晶:是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
平行平晶:用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
具體規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75-100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號 | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
1 | 15.00,15.12 | 40.00,40.12 | 65.00,65.12 | 90.00,90.12 |
2 | 15.12,15.25 | 40.12,40.25 | 65.12,65.25 | 90.12,90.25 |
3 | 15.25,15.37 | 40.25,40.37 | 65.25,65.37 | 90.25,90.37 |
4 | 15.37,15.50 | 40.37,40.50 | 65.37,65.50 | 90.37,90.50 |
5 | 15.50,15.62 | 40.50,40.62 | 65.50,65.62 | 90.50,90.62 |
6 | 15.62,15.75 | 40.62,40.75 | 65.62,65.75 | 90.62,90.75 |
平行平晶0-100,一級平晶