μ Phase高精度干涉儀用于測(cè)量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，被國(guó)家*，以及各大天文、光電研究所應(yīng)用于精密光學(xué)檢測(cè)，測(cè)量精度及穩(wěn)定性已得到研究機(jī)構(gòu)的廣泛肯定。

應(yīng)用范圍：

可用于測(cè)量平面和球面光學(xué)零件

可完成各種類型的反射和透射檢測(cè)

可采用透射法檢測(cè)雙膠合透鏡

曲率半徑測(cè)量

非球面、柱面、輪胎面等面型的測(cè)量

大型平面的檢測(cè)

光學(xué)材料的均勻性檢測(cè)

理想的成盤拋光分塊鏡面型檢測(cè)

典型應(yīng)用

μPhase® SPHERO UP， μPhase® PLANO UP，μPhase® Plano Down

• 用于測(cè)量不同的平面和球面光學(xué)零件
• 操作直觀而簡(jiǎn)單，適合非專業(yè)人士操作
• 測(cè)量范圍：

μPhase® Plano Down：平面φ≤2 mm 至 150 mm

μPhase® PLANO UP：平面φ≤2 mm 至 100 mm

μPhase® SPHERO UP：球面，曲率半徑（凸面）2mm—225mm，直徑zui大55mm

球面，曲率半徑（凹面）-3mm—-570mm

• 結(jié)構(gòu)緊湊，占用空間下，可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合

μPhase® Vertical

• 適用于廠房、車間、實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)干涉儀檢測(cè)系統(tǒng)
• 立式檢測(cè)，結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小
• 標(biāo)配一個(gè)沿Z軸方向電動(dòng)平移的平臺(tái)，可選配第二個(gè)平臺(tái)
• 傾斜及X/Y平移精調(diào)
• 可完成各種類型的反射與透射檢測(cè)
• 可采用透射法檢測(cè)雙膠合透鏡
• 凹面與凸面球面鏡的檢測(cè)范圍：標(biāo)準(zhǔn)曲率半徑范圍：1mm-225mm，直徑zui大55mm（采用50mm物鏡μLens PLANO 50）
• 集成半徑測(cè)量單元
• 可選CGH，用于測(cè)量非球面、柱面、輪胎面等
• Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機(jī)，電動(dòng)升降
• 曲率半徑實(shí)現(xiàn)一鍵式自動(dòng)測(cè)量

μPhase® UNIVERSAL 100

• 用于測(cè)量平面和球面的4英寸干涉檢測(cè)系統(tǒng)
• 球面測(cè)量范圍：凹面曲率半徑zui大-3000mm（提供相應(yīng)導(dǎo)軌）
• 平面測(cè)量范圍：zui大98mm
• 半徑測(cè)量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺
• 適合長(zhǎng)焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測(cè)
• 與市場(chǎng)上通用的4英寸標(biāo)準(zhǔn)球面物鏡相兼容
• 可選旋轉(zhuǎn)對(duì)稱非球面的檢測(cè)配件，檢測(cè)范圍10mm-80mm，CGH檢測(cè)輪胎面、柱面等

μPhase® Plano 300

• 理想的大型平面的檢測(cè)系統(tǒng)，光學(xué)材料的均勻性檢測(cè)系統(tǒng)
• 理想的成盤拋光分塊鏡面形檢測(cè)系統(tǒng)
• 測(cè)量范圍60-300mm
• 立式檢測(cè)系統(tǒng)，其它檢測(cè)方式根據(jù)要求可訂制
• 具有重型光學(xué)元件的支承、調(diào)整等操作功能。

技術(shù)規(guī)格：