EL+VI檢測單元高清組件el測試儀
設(shè)備原理
● 高清在線EL+VI一體機(jī),可以同時(shí)檢測組件內(nèi)部缺陷和外觀缺陷,采用4臺(tái)EL相機(jī)和4臺(tái)外觀檢測相機(jī),采用組件移動(dòng)三次拍攝成像,兩臺(tái)大屏幕顯示器分別顯示EL和VI圖像。
● EL檢測主要用于檢測組件的外部缺陷如:隱裂,斷柵,碎片,裂紋,黑斑,功率等級混,虛焊,斷柵,工藝缺陷等。
● VI檢測主要用于檢測組件的外部缺陷如:表面污染,串間距,對角線,缺角,崩邊,劃痕,露白,異物等。
高清組件el測試儀設(shè)備工作特點(diǎn):
★ 在線EL檢測,四相機(jī)拍攝模式,同進(jìn)同出,單相機(jī)230W(1920*1200)像素。
★ 外觀檢測單相機(jī)像素2000W(5440*3468)像素。
★ 多點(diǎn)承接型,工作臺(tái)高度950mm±30mm,長邊進(jìn),長邊出。
★ 伺服控制并且設(shè)備內(nèi)自帶校正功能,保證組件上電精準(zhǔn)度。
★ 信號輸入啟動(dòng),組件進(jìn)入檢測單元,測試檢查完成后選擇分類,組件流出,支持MES,SQL數(shù)據(jù)庫與SPC統(tǒng)計(jì)功能。
★ 高低電流可同時(shí)測試。
設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)
技術(shù)指標(biāo) | |
檢測類型 | 層壓前和層壓后 晶硅組件檢測,標(biāo)準(zhǔn)組件,雙玻組件等 |
相機(jī)像素 | EL 4*230W (1920*1200)像素 AI 4*2000W (5440*3468)像素 |
圖片分辨率 | EL<0.4mm/pixel;外觀≤0.2mm/pixel |
相機(jī)類型 | 采用SONY芯片 |
鏡頭 | CCD工業(yè)紅外光學(xué)鏡頭 |
快門 | 電子快門 |
圖像拼接 | 圖像自動(dòng)拼接 |
通電成功率 | 一次通電成功率>99.95%;可以自動(dòng)識別是否通電,并報(bào)警 |
拍攝方式 | 組件正面向下,移動(dòng)三次成像 |
測試周期 | ≤30s |
zui大測試范圍 | 長邊(1580-2000)mm*短邊(800-1100)mm |