韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

1 ,全自動(dòng)可編程XYZ三軸定位全自動(dòng)工作臺,工作臺行(200*150*140)
平均移動(dòng)速度60mm/s,工作臺重復(fù)定位精度優(yōu)于0.01mm

2,激光點(diǎn)精密定位測量位置,具有高分辯CCD彩色攝像頭樣品觀察視察 
  手動(dòng)或自動(dòng)聚焦方式

3 可無損測量及定性分析元素17CL-92U 
 可對單一金屬鍍層及多鍍層合金鍍厚度進(jìn)行測量.

4 X射線管高壓0-50KV(程控)
  管電流0-1Ma

5:可進(jìn)行無損鍍層厚度測量及鍍層成分定性分析及鍍液分析

7 鍍層測量精鍍,*層正負(fù)5%,第二層10%  第三層15%

9 測量軟件具有對多個(gè)測量結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析和圖表顯示功能.

10 測量結(jié)果多種單位可轉(zhuǎn)換,顯示小數(shù)點(diǎn)后三位.

11,準(zhǔn)直器在小:0.1mm  0.2mm  0.3mm  0.4mm 0.05*0.3mm (5個(gè))

韓國先鋒X-RAY膜厚儀測量范圍

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

設(shè)備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量

定點(diǎn)自動(dòng)定位分析

光徑對準(zhǔn)全自動(dòng)

影像重疊功能

自動(dòng)顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計(jì)顯示視窗與報(bào)告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動(dòng)控制雷射對焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)

多種機(jī)型選擇X-ray運(yùn)行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時(shí)效全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時(shí)效

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量

定點(diǎn)自動(dòng)定位分析

光徑對準(zhǔn)全自動(dòng)

影像重疊功能

自動(dòng)顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀精度控制：

*層：±5%以內(nèi)

 第二層：±8%以內(nèi)

 第三層：±15%以內(nèi)