RTM-VA 全角度光譜測量臺
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 杭州譜鐳光電技術有限公司
- 品牌
- 型號 RTM-VA
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2018/4/16 15:53:33
- 訪問次數(shù) 747
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產地類別 | 國產 |
|---|
材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率會因入射角度變化而變化。通過測量不同角度入射，研究材料的zui敏感角度，為進一步研究或設計測量儀器提供依據(jù)。
RTM-VA全角度光譜測量臺可以搭配光譜儀、光源及其他測量附件，可以對材料進行不同角度入射和接收的光譜測量，適用于各種表面平整的樣品光譜測量。采用電控獨立雙軸設計，高精度步進電機控制發(fā)射端和接收端的角度，角分辨率達0.05°。光譜范圍220-2500nm(可選擇不同配置），電腦軟件選擇發(fā)射端和接收端的角度，實現(xiàn)快速的光譜測量，能夠滿足透射/反射/散射/熒光/輻射等多種模式的全角度光譜測量應用的需求。
入射端帶有一個旋轉偏振片架和一個濾波片架，可以放置一個偏振片和濾波片。接收端帶有一個濾波片架，可以放置一個濾波片、偏振片或者波片。各種波長的范圍的偏振片、濾波片和波片可供選擇。
應用領域
- LED光源等
- 材料鍍膜
- 光子晶體器件
- 液晶顯示
- 傳感器器件制備
- 角度材料相關分析
- 納米光學材料
主要特點
- 全角度測量：發(fā)射端角度范圍0°至180°，接收端角度范圍0°至360°，可以實現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量。
- 精確角度控制：高精度電機，角度精度及重復性能優(yōu)異。
- 多光譜測量模式：可以實現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量。
- 可編程測量模式：可以通過編程，來實現(xiàn)自動多角度光譜測量。
- 自由測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角，實現(xiàn)光譜測量。
- 可選配件多樣：根據(jù)客戶的不同測量應用，可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測量應用。
- 多維調節(jié)樣品臺：樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成，可實現(xiàn)樣品的五維正交調節(jié)。
光譜角度測量模式
 |  |
| 反射測量（上反射/下反射）模式 | 透射測量模式 |
 |  |
| 散射/熒光測量械 | 輻射測量模式 |
參數(shù)指標
| 參數(shù)指標 | ||
| 參數(shù)/型號 | RTM-VA | RTM-VAS |
| 光譜范圍 | 360-2500nm | 360-2500nm |
| 光源 | 含鎢燈光源 | 含鎢燈光源和積分球 |
| 光斑大小 | zui小3mm | zui小5mm |
| 入射角范圍 | 0-180° | 0-180° |
| 接收角范圍 | 0-360° | 0-180° |
| 角度分辨率 | 0.05° | |
| 測量對象 | 平面樣品、發(fā)光樣品 | 鏡面樣品、曲面樣品 |
| 應用 | 反射、透射、散射、熒光測量 | 反射率、透過率測量 |
可選配件
| 紫外擴展模塊 | |
| RTM-UV | 250-2500NM |
| 光譜儀 | |
| USB2000+ | 350-1000nm |
| QEPRO | 350-1100nm |
| NIRQUEST | 900-2500nm |
| 光源 | |
| DH-2000 | 220-2500nm |
| 偏振片 | |
| PLine-UV | |
| PLine-VIS-A | 400-700nm |
| PLine-VIS-B | 600-1100nm |
| PLine-NIR-A | 1050-1700nm |
采購中心
化工儀器網(wǎng)