UVM-1™全光譜顯微鏡的設(shè)計是將紫外-可見-近紅外成像技術(shù)和顯微技術(shù)相結(jié)合，能夠*的實現(xiàn)紫外-可見-近紅外的成像。具有前沿技術(shù)的UVM-1™全光譜顯微鏡結(jié)合CRAIC創(chuàng)新設(shè)計的光學(xué)技術(shù)，用戶僅用一臺顯微鏡就能在整個寬光譜范圍內(nèi)完成顯微成像，無論是高分辨能力，還是光譜成像能力， UVM-1™都代表了顯微成像領(lǐng)域的高水平。

      UVM-1™全光譜顯微鏡具有*的多功能系統(tǒng)設(shè)計，能夠允許用戶只在一臺顯微鏡上獲得紫外-可見-近紅外的高分辨率成像和分析結(jié)果。紫外顯微鏡對半導(dǎo)體內(nèi)微量異物有很高的靈敏性，相比標準的顯微鏡，具有強大的的能力測量微量變化。近紅外顯微鏡能夠無損的、有選擇性的對硅晶片設(shè)備內(nèi)部的電子電路進行精確的成像,這些應(yīng)用知識是其眾多應(yīng)用領(lǐng)域的一小部分。 UVM-1™也可與拉曼一起提供給您更多的功能。UVM-1™全光譜顯微鏡靈活的設(shè)計使其在任何應(yīng)用領(lǐng)域都能做到顯微光譜分析工具。

UVM-1™參數(shù)