銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列

品牌：Micro Pioneer

儀器功能及應用：

檢測電鍍與化學鍍層：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀?檢測范圍

Au  0.03-6um

Pd  0.03-6um

Ni  0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag  0.1-50um

Cr  0.5-30um

Zn  0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列?測厚儀精度控制：

*層：±5%

第二層：±8%

第三層：±15%

X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2020系列

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀三款型號

不同型號各種功能相同

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2020N型:測量樣品高度不超過25cm  (長20寬18cm)

XRF-2020H型:測量樣品高度不超過12cm  (長20寬17cm)

XRF-2020L型:測量樣品高度不超過3cm   （長20寬19cm）

XRF-2020PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列

儀設備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯

應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務時效

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列
品牌： 微先鋒Micro Pioneer
貨號：XRF-2020系列測厚儀
品名：X-RAY膜厚儀

銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um