hemplex樣品杯由專為該應用配制的高密度聚乙烯注模制成。該材料的特點有：

1. 符合RoHS指令；

2. 不含有可能影響X射線數(shù)據(jù)的“白化”因子；

3. 光滑，能夠促進薄膜樣本支撐窗口的光滑和穩(wěn)固附著；

4. 耐熱和抗輻射的物理性能特點；

5. 能抵抗與無法確定的樣本材料物質(zhì)接觸時產(chǎn)生的化學污染；

6. 低微量元素雜質(zhì)。

適用于各種品牌X熒光光譜儀：

島津Shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、精工SII、日本電子JEOL、理學Rigaku、堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

Chemplex樣品杯產(chǎn)品系列：