本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
- 公司名稱(chēng) 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/18 12:05:07
- 訪問(wèn)次數(shù) 2990
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國(guó)家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過(guò)ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近20項(xiàng)國(guó)家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)，積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫(xiě)和算法編寫(xiě)核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平，未來(lái)面向市場(chǎng)。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號(hào)，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker，英國(guó)OXFORD，美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專(zhuān)業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢(shì)和專(zhuān)注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測(cè)試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測(cè)量?jī)x、在線測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|
本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介：
CSPM5500是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運(yùn)行穩(wěn)定、使用方便，非常適合用戶開(kāi)展納米研究工作。
本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
技術(shù)參數(shù)：
(1)國(guó)際主流的研究級(jí)專(zhuān)業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
(2)分辨率：
原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.1nm（以云母晶體標(biāo)定）
掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標(biāo)定）
(3)高精度計(jì)量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國(guó)際計(jì)量權(quán)威機(jī)構(gòu)Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)
(4)一鍵式快速全程全自動(dòng)進(jìn)樣，無(wú)需手動(dòng)預(yù)調(diào)，行程大于30mm，可容納超大樣品
(5)兩級(jí)可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可對(duì)樣品進(jìn)行精確的檢測(cè)區(qū)域定位
(6)一次掃描技術(shù)，圖像分辨高達(dá)4096×4096物理象素，微米級(jí)掃描即可得到納米級(jí)的實(shí)際信息
(7)*進(jìn)PID反饋算法實(shí)現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實(shí)際掃描速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)
(8)系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計(jì)算機(jī)連接
(9)主控機(jī)箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當(dāng)前狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示
(10)具備實(shí)時(shí)在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測(cè)過(guò)程中隨時(shí)直觀獲得樣品信息
主要特點(diǎn)：
(1) 標(biāo)準(zhǔn)配置：
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學(xué)性能分析測(cè)量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
曲線測(cè)量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等
(2)選配功能：
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機(jī)械刻畫(huà)、矢量掃描模式、DPN浸潤(rùn)筆模式等；
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡；
環(huán)境控制掃描探針顯微鏡；
液相掃描探針顯微鏡；
導(dǎo)電原子力顯微鏡；
掃描探針聲學(xué)顯微鏡；
掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡；
掃描電容顯微鏡；
壓電力顯微鏡
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