產(chǎn)品名稱：植物冠層分析儀/植物光譜儀/冠層分析儀 產(chǎn)品型號(hào)：TC-2000

植物冠層分析儀 植物光譜儀 冠層分析儀  型號(hào)：TC-2000

操作原理：

任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測(cè)的基本原理。通過測(cè)量每一波長(zhǎng)輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質(zhì)的特性就能被確定。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，僅需要選擇某些特定波段來識(shí)別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對(duì)探測(cè)和評(píng)估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長(zhǎng)波波段可以用于估計(jì)植物的生物化學(xué)成份。

采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù)，可快速測(cè)定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。

儀器為8通道通用光譜檢測(cè)分析儀，可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器，用戶可以根據(jù)實(shí)際須要定制不同波段的濾光片進(jìn)行光譜檢測(cè)。

儀器自帶8個(gè)波段的濾光片，主要中心波段為：550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.

內(nèi)置傳感器自動(dòng)校正模塊。

植物冠層分析儀TC-2000應(yīng)用范圍：

*描述:

-植物正常生長(zhǎng)

-植物冠層顔色

-植物生長(zhǎng)環(huán)境

*評(píng)估:

-作物生物量

-生物化學(xué)含量

-作物產(chǎn)量組成

-作物質(zhì)量因子

-葉面積指數(shù)

-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學(xué)植物毒素等造成的作物產(chǎn)量損失與品質(zhì)降低

*植物生長(zhǎng)調(diào)節(jié)劑的評(píng)估

*客觀有效地對(duì)各種葉片病害的評(píng)級(jí)

*監(jiān)測(cè)應(yīng)用除草劑的效果

*用于土壤改善和肥力的研究

*葉面施肥的研究

*灌溉日程安排的研究

*干旱對(duì)植物生長(zhǎng)和產(chǎn)量的影響

*不同基因型的特性

*試驗(yàn)地變異的評(píng)估

植物冠層分析儀TC-2000特點(diǎn)：

輻射計(jì)方向360度可調(diào)，可以自動(dòng)校準(zhǔn)太陽方向角對(duì)測(cè)量造成的影響

儀器高矮可調(diào)節(jié)

能夠在少云的情況下使用

8個(gè)波段與Lsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似

重量輕、便于攜帶

可以用于無人值守的操作

大屏幕中文液晶顯示

手持機(jī)可存儲(chǔ)，通過按鍵存儲(chǔ)

帶計(jì)算機(jī)接口，可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)，以便分析之用

技術(shù)指標(biāo)：

現(xiàn)在已定標(biāo)的有：

A、歸一化植被指數(shù)NDVI、SA-NDVI，WDR-NDVI，RVI

B、光化學(xué)反射系數(shù)PRI

C、葉面積指數(shù)（LAI）

D、冠層林隙比例（GAP SIZE）

E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)

波段:8個(gè)

中心波長(zhǎng):  550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm 

操作范圍:0到+50℃,0到100%相對(duì)濕度不凝結(jié),<20%的相對(duì)濕度下貯藏

反射率區(qū)間:0到100%

分辨率:0.06%

精確度:+/-4%

檢波器:發(fā)光二管

尺寸：100×100×80mm

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)：1000組

響應(yīng)時(shí)間：2秒

重量:1kg

植物冠層分析儀配置：

該系統(tǒng)包括輻射計(jì)、數(shù)據(jù)記錄器（手持表）、伸長(zhǎng)桿 (可伸長(zhǎng)到3.5米)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊(cè)

植物冠層分析儀操作方法：

在田間，通過支持架（桿）將輻射計(jì)保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測(cè)直徑是反射計(jì)高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對(duì)電壓數(shù)字化和記錄每一選擇波長(zhǎng)的反射百分?jǐn)?shù)。該程序同時(shí)允許對(duì)多個(gè)樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù)，如時(shí)間、入射輻射水平和輻射計(jì)內(nèi)部的溫度，均可在每次掃描時(shí)記錄下來。

通過手動(dòng)開關(guān)或按手持機(jī)觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過程均有屏幕提示。

輻射計(jì)設(shè)計(jì)允許幾乎同時(shí)輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽角度和光照條件下精確測(cè)量作物冠層的反射率。在多云條件下，利用系統(tǒng)校準(zhǔn)程序進(jìn)行環(huán)境校準(zhǔn)，仍然可以獲得有用的反射率觀測(cè)值。