掃描電鏡（SEM）檢測服務(wù)
- 公司名稱 北京嘉美臻元生物技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2019/3/19 16:43:15
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|
掃描電鏡（SEM）檢測服務(wù)
一、實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡介
掃描電鏡（Scanning Electron Microscope；SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。
二、實(shí)驗(yàn)技術(shù)原理
掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡 匯集成細(xì)小的電子束。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下,使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子、背散射電 子、X射線等各種信息。這些信息的二維強(qiáng)度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有表面形貌、成分、晶體取向、電磁特性等等),將各種探測器收集到的信息按 順序、成比率地轉(zhuǎn)換成視頻信號,再傳送到同步掃描的顯像管并調(diào)制其亮度,就可以得到一個反應(yīng)試樣表面狀況的掃描圖像。如果將探測器接收到的信號進(jìn)行數(shù)字化 處理即轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號,就可以由計(jì)算機(jī)做進(jìn)一步的處理和存儲。
三、實(shí)驗(yàn)操作流程
1、取材
2、固定
3、漂洗
4、脫水
5、置換
6、干燥
7、鍍膜
8、掃描電鏡觀察，拍片
四、實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)
1、客戶提供
1）細(xì)胞，數(shù)量要求：10^6次方以上。生長在培養(yǎng)皿或培養(yǎng)板上細(xì)胞取材，若是懸浮的細(xì)胞將細(xì)胞轉(zhuǎn)移到尖底 EP管里直接離心，貼壁細(xì)胞就先倒出培養(yǎng)液，用胰蛋白酶消化或用細(xì)胞刮刮下，而后帶培養(yǎng)液一起低速離心，800-1200 轉(zhuǎn)/分鐘，離心 5-10 分鐘使細(xì)胞沉淀成團(tuán)，離心完后倒出培養(yǎng)液，沿壁緩慢加入電鏡固定液（1.5%-2.5%中性戊二醛），注意不要把細(xì)胞團(tuán)打散。4℃下固定 15 分鐘或以上再送檢。若細(xì)胞團(tuán)太小，注意要用1ml 甚至 0.5ml 尖底 EP 管來進(jìn)行固定、保存。
2）肌肉：觀察縱切面時沿著肌束方向，用鋒利的刀片或剪刀在取出的組織一邊取出 1-3 條細(xì)長的肌束，橫截面約 1mm*1mm，投入到 2-8℃的電鏡固定液（2.5%中性戊二醛）里。若有條件，為防止肌肉收縮變形，可將取出的肌束貼在載玻片毛玻璃一側(cè)，使其略微伸展。再將貼好標(biāo)本的載玻片放入戊二醛中進(jìn)行固定。若無，則可取出長條狀組織后，垂直緩慢放入固定液中，懸空在固定液里稍等 3 秒再放入。
3）植物、昆蟲等密度比固定液低的樣品：必須先用針筒或抽真空儀器先抽氣，再使標(biāo)本沉入固定液中。
2、交付標(biāo)準(zhǔn)
1）掃描照片、讀片分析
2）完整項(xiàng)目報(bào)告（材料、試劑、儀器、方法、數(shù)據(jù)分析、實(shí)驗(yàn)結(jié)果）
3、其他
1、含有水分的樣品（多孔/鑲樣樣品）應(yīng)先烘干除去水分。
2、表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗，然后烘干。
3、新斷開的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)。有些試樣的表面、斷口需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那治g，才能暴露某些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，則在侵蝕后應(yīng)將表面或斷口清洗干凈，然后烘干。
4、對磁性試樣要預(yù)先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響。
5、對同一種鍍膜材料，離子濺射鍍膜質(zhì)量好，能形成顆粒更細(xì)、更致密、更均勻、附著力更強(qiáng)的膜。
6、同一次裝入電鏡的樣品，高度差不要超過1.5mm（包括同一塊樣品的表面高度也是如此）。對鑲嵌塊，斷面樣品等高度大的樣品，千萬不要對樣品臺平面聚焦，只能對樣品上表面聚焦。
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