FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊
- 公司名稱 北京培科創(chuàng)新技術有限公司
- 品牌 復享
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/9/23 16:11:44
- 訪問次數(shù) 2293
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日本電子電子顯微鏡,德國Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀,美國ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,德國Hilgers公司Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)
供貨周期 | 一個月以上 | 應用領域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,能源 |
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市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法,兩者在本質上是相通的,測量精度相近,頻域技術是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術在各種顯微壽命成像平臺中都有應用,時間相關單光子計數(shù)方法(TCSPC )是zei為常見的時域技術,而新興的數(shù)字頻域技術(FastFLIM™ )則取代了傳統(tǒng)的模擬頻域技術,憑借其獨恃的優(yōu)勢成為應用zei廣的頻域技術。
美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術解決方案的公司,其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊,可以讓您現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能,可適配各種顯微鏡。
FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器,用于FLIM/FFS。
激光共聚焦自帶的混合光子探測器(Hyd)可直接跟FastFLIM連接,用戶FLIM/FFS
FastFLIM模塊通過USB與電腦連接,可任意選配控制工作站。
FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊的優(yōu)勢:
Ø高效快速的數(shù)據(jù)采集模式(100% duty cycle),幾乎無死亡時間;
Ø光子計數(shù)動態(tài)范圍大,線性度高,數(shù)據(jù)采集率可達每秒計數(shù)6x107;
Ø提供四個數(shù)據(jù)輸入通道,
Ø同時對四個檢測器進行并行數(shù)據(jù)采集;
Ø靈活度高,應用范圍廣
Ø100ps到100ms的無間斷壽命測量;
Ø可接入多種模式觸發(fā)信號與脈沖激光或其它測量設備同步;
Ø可輸出多種模式觸發(fā)信號來調控脈沖激光重復率或調制激光或同步其他測量設備