LW400JT金相顯微鏡專為微電子行業(yè)量身定做，適用于硅、砷化鎵、磷化銦等基片6″8″盤的生產(chǎn)工藝檢查；可以方便的快移和精確的位移檢查；也可以適用其它需較大面積標(biāo)本的工藝檢查。

LW400JT金相顯微鏡性能特點

1、 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。

2、配置大移動范圍的載物臺

3、粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。

4、6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。

5、三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行*透光攝影。

主要技術(shù)參數(shù)：

1、三目鏡筒：傾斜30 °，瞳距55mm-75mm，視度±5°               

2、目鏡：WF10X/18mm

3、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)

 PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40  

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、總放大倍數(shù)：50X-800X

5、載物臺：尺寸: 280mm×270mm,移動范圍: 204mm×204mm

6、調(diào)焦：粗微動同軸 升降范圍25mm 

微動格值0.002mm

7、光 源：柯勒照明 濾色片座 可調(diào)鹵素?zé)?V20W

8、正交偏光裝置