Agilent 5100 ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 是行業(yè)*的 ICP-OES（也稱作 ICP-AES）分析法。憑借*的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)，該系統(tǒng)在單次測(cè)量中可同時(shí)實(shí)現(xiàn)等離子體的水平和垂直觀測(cè)。通過與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測(cè)器配合使用，5100 ICP-OES（也稱作 ICP-AES）能夠以一半的氬氣用量來運(yùn)行具挑戰(zhàn)的樣品，速度可提升 55%。除了保持 5100 系統(tǒng)的優(yōu)異性能之外，新一代 ICP Expert 軟件和 DSC 技術(shù)消除了方法開發(fā)過程中的估算并簡(jiǎn)化了分析過程。

Agilent 5100 ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀特性：

● Agilent 5100 SVDV ICP-OES 的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)可在一次讀數(shù)中獲得等離子體的水平和垂直觀測(cè)結(jié)果，減少測(cè)量次數(shù)和氬氣消耗

● 即插即用型垂直炬管可應(yīng)對(duì)具挑戰(zhàn)性的樣品（從高基質(zhì)樣品到揮發(fā)性有機(jī)溶劑）。簡(jiǎn)單的炬管載架機(jī)械裝置可自動(dòng)調(diào)整炬管位置并連接氣體，確?？焖賳?dòng)儀器并獲得良好的重現(xiàn)性

● VistaChip II 檢測(cè)器是連續(xù)波長(zhǎng)范圍、零氣體消耗的高速 CCD 檢測(cè)器，可快速預(yù)熱，具有高通量、高靈敏度和寬的動(dòng)態(tài)范圍。

● 冷錐接口 (CCI) 通過從軸向光路中去除冷等離子體尾焰來減少自吸收和重組干擾

● 固態(tài)射頻系統(tǒng)提供可靠、穩(wěn)定且無需維護(hù)的等離子體，可實(shí)現(xiàn)*的分析穩(wěn)定性

● 智能的工業(yè)設(shè)計(jì)可確保即使在嚴(yán)苛的環(huán)境下，也能通過耐腐蝕材料和內(nèi)部正壓將酸性蒸汽排出，獲得可靠性能

● 世界上小的 ICP-OES 系統(tǒng)節(jié)省了寶貴的臺(tái)面空間，并且將電源、氣體、冷卻、水和通信等全部連接簡(jiǎn)單地放置在儀器一側(cè)，有利于維修和維護(hù)

● 新一代 ICP Expert 軟件具有您熟悉的工作表界面，高級(jí)算法提供準(zhǔn)確可靠的結(jié)果、簡(jiǎn)單的方法開發(fā)和包括預(yù)設(shè)方法模板的軟件程序，顯著節(jié)省您的時(shí)間

● 5100 系統(tǒng)提供三種靈活的配置：垂直火炬同步雙向觀測(cè)、垂直火炬雙向觀測(cè)和垂直觀測(cè)