Tecnai G2 F30透射電鏡
- 公司名稱 青島欣飛檢測(cè)有限公司-J
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/5/18 11:28:37
- 訪問(wèn)次數(shù) 1405
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小動(dòng)物活體成像、活細(xì)胞工作站、冰點(diǎn)滲透壓儀、超微量分光光度計(jì)、凝膠/化學(xué)發(fā)光成像系統(tǒng)、全自動(dòng)微生物鑒定儀、微生物快速檢測(cè)系統(tǒng)、電轉(zhuǎn)電融合儀、液氮罐、移液器等
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場(chǎng)發(fā)射 |
|---|
Tecnai G2 F30透射電鏡是一個(gè)真正多功能，多用戶環(huán)境的*儀器。它將各種透射電鏡技術(shù)(包括TEM、HRTEM、STEM、電子衍射、EDX透鏡等)一體化，形成強(qiáng)大的分析功能。除了具有200kV的各種優(yōu)點(diǎn)外，Tecnai G2F30提供了300kV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。Tecnai G2F30可以在原子尺度的分辨率下對(duì)材料進(jìn)行高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析，及各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和定量檢測(cè)。
Tecnai G2 F30透射電鏡主要技術(shù)指標(biāo)：
加速電壓：300KV
電子槍： 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
分辨率： 點(diǎn)分辨率：0.205 nm
線分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm
HR STEM分辨率：0.16nm
EDX分辨率：136eV
放大倍數(shù)：TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
應(yīng)用領(lǐng)域：
主要用于生物體、高分子和無(wú)機(jī)非金屬材料等樣品的內(nèi)部亞顯微結(jié)構(gòu)觀察。廣泛應(yīng)用于生物、能源、半導(dǎo)體、高分子、陶瓷、納米材料、化工、機(jī)電、環(huán)境、制藥等研究領(lǐng)域。
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