FT9400X射線熒光鍍層厚度測量儀搭載著75W高性能X射線管和雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數(shù)管），符合“薄膜”、“合金膜”、“極微小部分測定”等鍍膜厚度測定要求的高性能膜厚度測量儀。FT9455還在鍍膜厚度測定功能的基礎(chǔ)之上增加了異物定性和查資料成分分析的功能。
FT9400X射線熒光鍍層厚度測量儀特長
搭載雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)秀的半導體檢測器（起作用液化氮）和計數(shù)率優(yōu)秀的比例計數(shù)管，能夠根據(jù)運用需要對應(yīng)使用。特點是半導體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：
1.能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。
2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。
3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。
4.薄膜FP軟件：對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領(lǐng)域。
5.適用測定極微小部分,15μmΦ的準直管為標準裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。
6.搭載75W高性能X射線管。
7.容易對微小領(lǐng)域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統(tǒng)。
8.能夠測定大型打印基板的大型平臺。
9.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。
10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
11.利用伺服馬達精確的驅(qū)動平臺。
12.正確的對焦,利用激光能夠正確得對焦測試樣品。
13.報告制作軟件,運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。
規(guī)格
型號FT9455系列
測定元素原子序號22（Ti）~83（Bi）
X射線管管電壓：50kV管電流：1.5mA
檢測器半導體檢測器+比例計數(shù)管
準直器4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）
樣品觀察CCD照相機（帶可變焦距功能）
對焦激光向?qū)?br />過濾器電動切換（一次:Mo、二次:Co）
X-rayStation電腦、17英寸CRT
打印噴墨打印機
膜厚測定系統(tǒng)薄膜FP法，檢測線法
材料分析系統(tǒng)體積FP法
測定功能自動測定、中心檢索、畫像處理
補正功能材料補正，已知樣品補正
定性功能KL標記、比較顯示
統(tǒng)計處理功能預裝Microsoft-EXCEL
報告制作功能預裝Microsoft-WORD
安全機能樣品門鎖定
防止樣品碰撞樣品
裝置診斷功能
電源100V15A