x射線衍射儀SDD硅漂移探測(cè)器
- 公司名稱 丹東浩元儀器有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/5/24 14:26:16
- 訪問次數(shù) 637
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測(cè)器及其他設(shè)備 |
---|
線性探測(cè)器
正比探測(cè)器、閃爍探測(cè)器
使用時(shí)需要配置單色器,有效去掉Kβ線。
大線性計(jì)數(shù):≥5×105CPS
能譜分辨率:正比≤25%、閃爍≤50%。
x射線衍射儀SDD硅漂移探測(cè)器使用時(shí)不需要配置單色器,大線性計(jì)數(shù):≥1.5×105CPS、能譜分辨率高≤200eV,較線性探測(cè)器,樣品測(cè)量速度提高4倍以上,可實(shí)現(xiàn)高分辨率X射線衍射分析。
x射線衍射儀SDD硅漂移探測(cè)器由256個(gè)探測(cè)器組成的一維半導(dǎo)體陳列探測(cè)器,相比傳統(tǒng)的閃爍或正比探測(cè)器可以提高衍射強(qiáng)度120倍以上,在較短時(shí)間內(nèi),獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖,并且還有非常好的去熒光能力,即使是測(cè)量強(qiáng)熒光的樣品,一維半導(dǎo)體陳列探測(cè)器提供的數(shù)據(jù)也展示出非常好的信噪比。
大線性計(jì)數(shù):≥9×107CPS,能譜分辨率:≤25%;有高計(jì)數(shù)模式及去除熒光背景兩種工作模式。