低相位差高速檢查設備RE-200
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2019/5/25 16:25:28
- 訪問次數(shù) 379
產(chǎn)品標簽
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特 點
• 低相位差高速檢查設備RE-200可測從0nm開始的低（殘留）相位差
• 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于快速的0.1秒以下來處理）
• 無驅動部，重復再現(xiàn)性高
• 設置的測量項目少，測量簡單
• 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
• Rth測量、*角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
• 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）
測量項目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主軸方位角（θ[deg.]）
• 橢圓率（ε）?方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 低相位差高速檢查設備RE-200位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
• 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）
采購中心
化工儀器網(wǎng)