多層鍍鎳鍍銀測厚儀（電解破壞式）

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

庫侖鍍層測厚儀可以用于測量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測量時只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保測量結(jié)果準確、可靠，儀器使用簡便。測量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專業(yè)知識。

德國菲希爾fischer有兩款庫侖測厚儀，Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀和Couloscope CMS2 STEP  庫侖法測厚儀（主要有汽車行業(yè)），Couloscope CMS2 STEP 根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差，多用于汽車行業(yè)。

OULOSCOPE® CMS2 STEP特征介紹：
CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有 AgCl 的銀電極得到。
 

應(yīng)用實例：

使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測量印刷線路板上剩余純錫的厚度.

COULOSCOPE CMS2 STEP 測量： 帶有球狀支撐和可旋轉(zhuǎn)支撐板的V18 支架。 測量槽存放架可存放 3 個 100ml 的實驗室瓶。

具備 5X5 單獨測量區(qū)域的校準用標準片

測量印刷線路板上剩余純錫的厚度

CMS2 STEP 的典型應(yīng)用: 汽車制造中的 Cr 裝飾物， 多層鎳的鍍層

測量原理：
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時測量鍍層厚度和化學電位差）的簡寫， 是已經(jīng)標準化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量，電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測量結(jié)果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決
銀參比電極被設(shè)計成一個圓錐形的環(huán)狀電極，并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設(shè)計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。