磁光克爾顯微鏡測試時(shí)一束平面偏振光照在樣品表面上，由加強(qiáng)型且穩(wěn)定的發(fā)光二極管LED發(fā)出的光束經(jīng)過一個(gè)偏振片形成偏振光。由于磁光克爾效應(yīng)，反射光的偏振面會(huì)發(fā)生一定偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)大小取決于磁疇磁化方向，并且通過分析手段可以轉(zhuǎn)化為對(duì)比參數(shù)。低分辨率的顯微鏡的光束入射角固定為 30°。利用橫向和縱向的磁光克爾效應(yīng)可以分析成像，放大倍數(shù)可以通過調(diào)節(jié)設(shè)備上的變焦器件控制。高分辨率顯微鏡中，通過選擇不同的照明LED燈（顯微鏡采光平面中特定區(qū)域成像），可以調(diào)節(jié)磁光克爾效應(yīng)的敏感方向。

Evico磁光克爾顯微鏡和磁強(qiáng)計(jì)是一款*的設(shè)備，磁光克爾顯微鏡可以用來觀測多種磁性材料的磁疇、磁化過程以及記錄磁化曲線，如塊體材料、帶狀材料、磁性薄膜、多層膜、圖樣薄膜、以及微米-納米線等。整個(gè)測試系統(tǒng)是半自動(dòng)、零接觸、無損傷的。