X-Strata920鍍層測厚儀市場火爆的原因在哪

X-Strata920鍍層厚度的測量可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(基本參數(shù)法)2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測量已知厚度或組成

的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此

標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量示知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的簡稱。即基本參數(shù)法。

1）標(biāo)準(zhǔn)曲線法：如下圖所示，經(jīng)X射線照射后，鍍層和底材都會各自產(chǎn)生熒光X射線，我們必需

對這2種熒光X射線能夠辨別，方能進(jìn)行鍍層厚度的測量。也就說，鍍層和底材所含有的元素必需是不

*相同的，這是測量鍍層厚度的先決條件。

X-Strata920鍍層測厚儀市場火爆的原因在哪？鍍層厚度測量時，可采用兩種不同方法。一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度，稱

為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度，稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必

需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。

鍍層厚度測量時，測量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系，

并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強(qiáng)度，得到鍍層厚度。但是需注意的是，熒光X射

線法是從得到的熒光X射線的強(qiáng)度來求得單位面積的元素附著量，再除以元素的密度來得出其厚度。

所以，對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品，需要進(jìn)行修正。

2）FP法 - 基本參數(shù)方法

采用FP法，只需要比標(biāo)準(zhǔn)曲線法更少的標(biāo)準(zhǔn)樣品，就能簡單迅速地得到測量的結(jié)果。如果樣品

均勻，所使用分析線的強(qiáng)度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來表示。換句話說，從任意組成的樣

品所產(chǎn)生的分析線強(qiáng)度，都可以從這基本參數(shù)來計算出，所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。