無損X熒光鍍層測厚儀應(yīng)用范圍

－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍：Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算－測量自動化功能(要求XY程控機構(gòu))鼠標激活測量模式：“PointandShoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能(要求XY程控機構(gòu))設(shè)定測量點OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師－任選軟件統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析貴金屬檢測，如Aukarat評價

無損X熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
 
重量：90 kg

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

長期工作穩(wěn)定性高

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

無損熒光鍍層測厚儀一次可同時分析多達五層鍍層

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm


性能優(yōu)勢


可靠性高：
由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求：
：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種良好的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

快速：
1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

無損：
測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：
實時譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測試點

簡易：
對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

性價比高：
相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

應(yīng)用領(lǐng)域

無損熒光鍍層測厚儀主要針對金屬鍍層（鍍金，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等）厚度測試，廣泛應(yīng)用于線路板、五金工具，汽車配件，電子連接器，高壓開關(guān)，衛(wèi)浴等企業(yè)中，得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認可。