COMPACT ECO X射線鍍層測(cè)厚儀
- 公司名稱(chēng) 安捷特儀器(廣州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2019/8/12 10:54:31
- 訪問(wèn)次數(shù) 201
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超微量天平（百萬(wàn)分一）、微量天平（十萬(wàn)分一）、分析天平、精密天平、珠寶天平、比重密度天平、水分測(cè)定儀、工業(yè)秤、鍍層測(cè)厚儀、鍍層標(biāo)樣、金相耗材
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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COMPACT EcoX射線熒光光譜儀用于合金分析和鑒定
一、功能
1、采用X射線熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測(cè)量方法滿(mǎn)足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見(jiàn)的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3、鍍層層數(shù)：多至5層。
4、測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約0.6毫米。
5、測(cè)量時(shí)間：通常30秒。
6、樣品大尺寸：380mm長(zhǎng)×340mm寬×250mm高。
7、測(cè)量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8、可測(cè)厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
二、特點(diǎn)和數(shù)據(jù)
1、采用基本參數(shù)法校準(zhǔn)，可在無(wú)薄膜標(biāo)樣情況下生成校準(zhǔn)曲線以完成測(cè)量。
2、X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測(cè)量。反之，如果是從下*的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無(wú)法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測(cè)量光程的變化，引起測(cè)量的誤差。例如（舉例不同距離導(dǎo)致的誤差數(shù)據(jù)）。
3、COMPACT ECO X射線鍍層測(cè)厚儀開(kāi)放的校準(zhǔn)模式，用戶(hù)可自行建立校準(zhǔn)曲線不受儀器廠家限制。
4、COMPACT ECO X射線鍍層測(cè)厚儀提供符合NIST美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)協(xié)會(huì)要求，A2LA美國(guó)實(shí)驗(yàn)室協(xié)會(huì)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可驗(yàn)證測(cè)量結(jié)果并讓實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)具有可追溯性。
5、Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測(cè)量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值、樣品圖片和趨勢(shì)圖等要素的報(bào)告（word格式）。
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