TESCAN GAIA3 FIB-SEM雙束電鏡
- 公司名稱 上海永傲精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2019/10/11 14:53:26
- 訪問次數(shù) 1164
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清潔度測試儀,業(yè)納計(jì)量儀器,業(yè)納工業(yè)顯微相機(jī),光學(xué)軸類測量機(jī),奧林巴斯金相顯微鏡,科研相機(jī),電動(dòng)位移臺
價(jià)格區(qū)間 | 400萬-500萬 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),鋼鐵/金屬,公安/司法,綜合 |
GAIA3 是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺,它同時(shí)具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質(zhì)量超薄 TEM 樣品制備、在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少流程、精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重構(gòu)。
這些特征使得 GAIA3 成為低能電子束成像應(yīng)用的理想工具,保留易受電子束損壞的樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),如低介電常數(shù)材料、光阻材料及未涂覆生物樣品。在樣品改性方面,GAIA3 也代表了挑戰(zhàn)納米加工的適合解決方案。
突出特點(diǎn)
Triglav™ - 新型超高分辨率 ( UHR ) 電子光學(xué)鏡筒
- TriLens™ 物鏡系統(tǒng):*的電子束無交叉模式與超高分辨率物鏡相結(jié)合
- 具有多個(gè) SE 及 BSE 探測器的*探測系統(tǒng)
- TriSE™ + TriBE™
- Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率: 1 nm (1 kV ),0.7 nm (15 kV )
- EquiPower™ 進(jìn)一步提高電子束的穩(wěn)定性
- 電子束流高達(dá) 400 nA,并能實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變
- 優(yōu)化的鏡筒幾何設(shè)計(jì)大可容納8”晶圓
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