涂鍍層測(cè)厚儀XDV-µ
- 公司名稱 寧波旗辰儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2023/3/16 9:24:54
- 訪問(wèn)次數(shù) 3143
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子/電池,鋼鐵/金屬,制藥/生物制藥 |
涂鍍層測(cè)厚儀XDV-µ應(yīng)用:
鍍層厚度測(cè)量
1、測(cè)量未布元器件和已布元器件的印制線路板
2、在納米范圍內(nèi)測(cè)量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
3、對(duì)大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動(dòng)的質(zhì)量監(jiān)控
4、在納米范圍內(nèi)測(cè)量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM)
5、遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497 和 ASTM B568
材料分析
1、分析諸如Na等極輕元素
2、分析銅柱上的無(wú)鉛化焊帽
3、分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
涂鍍層測(cè)厚儀XDV-µ特點(diǎn):
1、Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces
2、*多毛細(xì)管透鏡,可將X射線聚集到極微小的測(cè)量面上
3、現(xiàn)代化的硅漂移探測(cè)器(SDD),確保*的檢測(cè)靈敏度
4、可用于自動(dòng)化測(cè)量的超大可編程樣品平臺(tái)
5、為特殊應(yīng)用而專門(mén)設(shè)計(jì)的儀器,包括:
- XDV-μ LD,擁有較長(zhǎng)的測(cè)量距離(至少12mm)
- XDV-μLEAD FRAME,特別為測(cè)量引線框架鍍層如Au/Pd/Ni/CuFe等應(yīng)用而優(yōu)化
- XDV-μ wafer,配備全自動(dòng)晶圓承片臺(tái)系統(tǒng)