Spotcheck® SKL-SP2 溶劑去除式滲透劑是一種溶劑去除式（或稱為后乳化式）紅色染料滲透劑，具有顯著的滲透特性，是檢測(cè)并定位表面開(kāi)口的裂紋和缺陷可靠的產(chǎn)品，已成功應(yīng)用于非多孔性陶瓷件和其他類似材料工件的檢測(cè)中。主要用于焊縫，鍛件，壓力容器，鑄件，通用金屬工件，測(cè)漏件，電站電廠檢修作業(yè)以及建筑作業(yè)的檢測(cè)。SKL-SP2 應(yīng)該在 40° F至125° F（約4.5℃至51.6℃）的溫度下使用。

Spotcheck® SKL-SP2 溶劑去除式滲透劑

滿足以下規(guī)范標(biāo)準(zhǔn):

AMS-2644, AECL, ASME B & PV Code Sec V, ASTM E1417, MIL-STD 2132, ASTM E165, MIL-STD-271

件號(hào)及包裝方式：

• 01-5150-35: 1加侖/桶，4桶/箱
• 01-5150-40: 5加侖桶
• 01-5150-45: 55加侖桶
• 01-5150-75: 滲透筆 (12只/盒)
• 01-5150-78: 16盎司噴罐(12罐/箱)

上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測(cè)厚儀：（27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀，ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計(jì)；DR平板探測(cè)器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測(cè)器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表