ZetaAPS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海胤煌科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZetaAPS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/26 14:19:19
- 訪問次數(shù) 2224
產(chǎn)品標(biāo)簽
ZetaAPS電位分析儀ZetaAPS型電位分析儀進(jìn)口ZetaAPS電位美國ZetaAPS電位儀ZetaAPS電位滴定儀
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顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀，超聲粒度儀銷售，多功能超聲粒度分析儀，粒度及Zeta電位分析儀，超聲波粒度儀，澄清度檢查專用傘棚燈，傘棚燈，超聲粒度儀超聲電位分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥 |
ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點(diǎn)：
1)能分析多種分散物的混合體；
2)無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
5)可精確測量無水體系；
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；
8)具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
3)不需定標(biāo)；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需定標(biāo)；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需稀釋，固合量高達(dá)60%；
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可精確測量無水體系；
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m
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