一、產(chǎn)品介紹

高低溫交變調(diào)溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn)

1．GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
5. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
6. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
7. GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

三、高低溫交變調(diào)溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品性能

高強(qiáng)度無(wú)骨架動(dòng)圈設(shè)計(jì)，可達(dá)2000hz高頻振動(dòng)。（選配）
內(nèi)嵌式振幅預(yù)測(cè)程序及調(diào)幅容易四點(diǎn)同步激振，臺(tái)面振動(dòng)均勻。
頻率控制精準(zhǔn)，平衡。
增加抗干擾電路，解決因強(qiáng)電磁場(chǎng)對(duì)控制電路的干擾。

四、技術(shù)參數(shù)

1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃

2、溫度均勻度：≤±2℃(空載時(shí))

3、溫度波動(dòng)度：±0.5℃(空載時(shí))

4、溫度偏差：≤±2℃

5、降溫速率：0.7～1.2℃/min

6、升溫速度：1.0～3.0℃/min

7、時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)

8、溫度交變范圍：-40～150℃

9、噪音：<65dB