在工業(yè)過程控制分析中，分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關(guān)重要的。SPECTROiQ II 在這一領(lǐng)域已建立了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。全新的SPECTROiQ II在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)了技術(shù)，提高了操作簡便性和可靠性。

在許多情況下，偏振X射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價(jià)格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美，以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務(wù)，現(xiàn)在通過SPECTROiQ II*的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。

偏振X射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II 采用低能量X射線管和新開發(fā)的C－Force偏振光學(xué)系統(tǒng)，確保了對(duì)樣品中元素的佳激發(fā)。使用Pd準(zhǔn)直器，SPECTROiQ II
具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時(shí)間內(nèi)，即可測定油中的超低硫含量。因此，新開發(fā)出的SPECTROiQ II
具有佳的分析輕元素的能力。

SPECTROiQ II軟件的特點(diǎn)：簡單明了。圖文式用戶操作界面，使日常操作所相關(guān)的重要功能清晰明確。觸屏操作，更為簡單直觀。