Cube-110臺(tái)式掃描電鏡（Emcrafts），包含CUBE、GENESIS、VERITAS三種規(guī)格，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，具有相同的分辨率性能和良好圖像質(zhì)量，涵蓋市場(chǎng)用戶各種配置需求。電子槍均可升級(jí)為亮度提高10倍的更高級(jí)的電子槍，實(shí)現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺(tái)均采用*優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便傾斜復(fù)位，微區(qū)多角度測(cè)試等高難度操作變得簡(jiǎn)單。如,EDS，3D立體對(duì)成像等。

Cube-110臺(tái)式掃描電鏡（Emcrafts）桌面臺(tái)式掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心樣品臺(tái)，樣品室可同時(shí)接配SE、BSE、EDS等探測(cè)器

Cube-110 采用背散射電子探測(cè)器，五軸全手動(dòng)優(yōu)中心樣品臺(tái)

【主要特點(diǎn)】：

 ● 大型掃描電鏡高分辨性能

 ● 精密五軸手動(dòng)樣品臺(tái)，成熟的Genesis優(yōu)中心結(jié)構(gòu)、輕易實(shí)現(xiàn)3D重構(gòu)。

 ● 半導(dǎo)體Bse探測(cè)器，在觀察樣品形貌的同時(shí)，獲得良好成分襯度。

 ● 體積小巧，移動(dòng)靈活

 ●

七工位多樣品托， X Y,配合R軸，批量測(cè)試樣品，大幅度提高測(cè)試效率
馳奔臺(tái)式掃描電鏡樣品臺(tái)

成分反差和形貌反差

石墨烯_053.jpg

BseD 探測(cè)器信號(hào)通道及LV可實(shí)現(xiàn)非導(dǎo)電樣品直接觀察。

BSED.JPG

【適用范圍】：

     掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。*的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬(wàn)倍的快速觀察分析，不但具有強(qiáng)大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實(shí)現(xiàn)用戶對(duì)材料的方位微觀分析。

     Cube-110 適合批量樣品分析測(cè)試微區(qū)形貌成分。