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ES620 TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 湖南格雷柏電子科技有限公司
品牌其他品牌
型號ES620
所在地長沙市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/9/20 16:49:59
訪問次數(shù) 2043

產(chǎn)品標(biāo)簽

TLP/VF-TLP測試系統(tǒng)ES620系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)晶圓級ESD測試

在線交流發(fā)送詢價(jià) 進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

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公司介紹 主營產(chǎn)品

湖南格雷柏電子科技有限公司成立于2016年，主要代理銷售國內(nèi)外產(chǎn)品，致力于表面科學(xué)、電子電力、環(huán)境力學(xué)、化學(xué)分析、可靠性分析等領(lǐng)域檢測儀器儀表、設(shè)備和配件綜合服務(wù)供應(yīng)商。

EMC電磁兼容和可靠性分析儀器、儀表、設(shè)備綜合服務(wù)供應(yīng)商，

芯片級、板級、系統(tǒng)級ESD靜電抗擾和EMI電磁干擾測試方案定制商，

行業(yè)涉及手機(jī)通信消費(fèi)電子、汽車電子、顯示行業(yè)、PCB板模組行業(yè)、芯片半導(dǎo)體行業(yè)，高校科研院所實(shí)驗(yàn)室，可為客戶提供定制解決方案。

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For our existing clients, thank you for your support and business, we pledge to continue to exceed your expectations.

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展開

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng) ，HBM/MM/Latch-up測試機(jī)， ESD/CDM/Latch-UP抗靜電能力測試系統(tǒng)， ES612A 靜電測試儀(HBM、HMM、MM)， ESD靜電和閂鎖測試系統(tǒng)， CDM充電器件模型測試儀， CDM測試機(jī)，半導(dǎo)體器件靜電測試儀，晶圓級ESD測試儀，EMI近場測試掃描儀系統(tǒng)

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

系統(tǒng)的傳輸線脈沖(TLP)測試和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014測試標(biāo)準(zhǔn)。ES620系統(tǒng)能夠向器件注入高質(zhì)量矩形波脈沖，同時(shí)記錄流經(jīng)器件的電流和器件兩端電壓。測試結(jié)果能夠提供脈沖式IV曲線，使用戶能夠表征器件在納秒級的瞬態(tài)響應(yīng)。系統(tǒng)還具有器件失效自動(dòng)化檢測方法，例如漏電流測試，靜態(tài)IV曲線，熔斷和火花放電。

超快TLP (vf-TLP) 測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007測試標(biāo)準(zhǔn)。vf-TLP測試用于模擬CDM速度的靜電放電，捕捉高速（大約100ps上升沿）狀態(tài)下器件的電流和電壓。用戶可以通過這種方法測試器件的響應(yīng)速度和峰值電壓。

人體金屬模型(HMM) 測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5. 6-2009測試方法，該方法可替代IEC61000-4-2中系統(tǒng)級ESD測試方法，用于測試IC。當(dāng)測試低阻抗器件或者晶圓時(shí)，系統(tǒng)的該測試功能可以提供符合IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的理想波形，并且避免許多靜電放電槍測試時(shí)可能出現(xiàn)的問題，例如可重復(fù)性差，放電位置不對，由未屏蔽繼電器產(chǎn)生的EMI互擾，需要設(shè)置大接地平板和耦合板。

系統(tǒng)有完整的軟件控制，可定制上升沿時(shí)間和脈沖寬度，與IVI儀器有良好的兼容性，體積小。

TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng)特點(diǎn)：

配置靈活的TLP IV曲線脈沖測試分析系統(tǒng)

超便攜設(shè)計(jì)

超快測試速度，程序并行處理

目前測試版本有25A，50A和100A模塊

高質(zhì)量TLP脈沖

可擴(kuò)展的測試模塊包括vf-TLP，HMM，HBM和低壓浪涌

自動(dòng)化故障檢測方法包括：DC抽查 (電壓或電流)，靜態(tài)IV，熔融，擊穿，偏置源波動(dòng)以及客戶自定義

軟件控制的脈沖注入：單次，連續(xù)，IV-曲線表征

上升沿選項(xiàng)：60ps至 50ns(取決于模塊)

脈沖寬度選項(xiàng)：1ns至3200ns(取決于模塊)

TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng)應(yīng)用：

晶圓級ESD測試

PCB/封裝級ESD測試

系統(tǒng)/電路ESD測試

安全工作區(qū) (SOA) 測試

充電恢復(fù)時(shí)間測試

差分ESD脈沖注入

觸摸屏ITO微帶線熔斷測試

觸摸屏ITO微帶線火花放電測試

TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD STM 5.5.1-2008標(biāo)準(zhǔn)

vf-TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD SP5.5.2-2007標(biāo)準(zhǔn)

對于低阻抗器件，HMM的注入電流脈沖與IEC61000-4-2波形相符

規(guī)格：

ES620基于傳輸線脈沖的IV-曲線測試系統(tǒng)

參量	ES620-25	ES620-50	ES620-100	單位	備注
開路輸出電壓	±0.5~1250	±0.5~2500	±0.5~5000	V
50?負(fù)載時(shí)，輸出電壓	±0.25–625	±0.5~1250	±0.5~2500	V
50?負(fù)載時(shí)，小電壓步長低電壓–40V	0.01	0.01	0.02	V	帶46dB反射抑制
50?負(fù)載時(shí)，小電壓步長40V至高電壓	0.1	0.1	0.2	V	帶6dB反射抑制
輸出電壓誤差	<5%			%	自校準(zhǔn)后
短路輸出電流	±0.01~25	±0.02~50	±0.04~100	A
50?負(fù)載時(shí)，輸出電流	±0.005~12.5	±0.01~25	±0.02~50	A
50?負(fù)載時(shí)，峰值功率	≥7.813	≥31.25	≥125	kW
自帶TLP上升沿時(shí)間	≤0.2	≤0.2	≤0.3	ns	ES620-25可達(dá)60ps
其他上升沿時(shí)間選項(xiàng)	0.06~50			ns	與模型有關(guān)，請看表2
自帶TLP脈沖寬度	100±1			ns	自定義
其他脈寬選項(xiàng)	1~3200	5~1000	5~1000	ns	與模型有關(guān)，請看表3
測試間隔時(shí)間	一般為0.2~2			s	與示波器，SMU和規(guī)定有關(guān)
尺寸	347X300X145			mm
重量	5	6	8	kg
I&V直接測量	I&V直接測量探頭A6213-T1 (CT-2電流探頭和1KT型電壓探頭)
可配用示波器	Tektronix，Agilent，LeCroy，Rigol的大部分型號				其他型號可根據(jù)客戶需求進(jìn)行匹配支持
可配用SMU	Keithley 24xx/26xx系列SMU				其他型號可根據(jù)客戶需求進(jìn)行匹配支持

ES620-HMM1擴(kuò)展的人體金屬模型模塊(DUT為短路，100?HMM，基于ANSI/ESD SP5.6-2009標(biāo)準(zhǔn))

參數(shù)	ES620-25	ES620-50	ES620-100	單位	備注
HMM峰值電流	22.5	45	90	A	每千伏3.75A≤±10% IEC 61000-4-2 (R=330?，C=150pF)
30ns時(shí)的HMM 電流	12	24	48	A	≤±10% (優(yōu)于IEC的±30% )
60ns時(shí)的HMM 電流	6	12	24	A	≤±10% (優(yōu)于IEC的±30% )